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方案優(yōu)勢：幾乎所有采用激光散射法的粒度分析儀器在測試時(shí)都沒有考慮粒子的形狀，不重視粒子的尺寸，原因是在于利用分析過程中獲得的原始數(shù)據(jù)計(jì)算粒徑分布時(shí)的基本假設(shè)。 用于計(jì)算粒徑分布的數(shù)學(xué)模型是基于球形體系的，因此所有粒徑分布結(jié)果都是被分析材料的等效的球狀分布。在大多數(shù)實(shí)例中，這個(gè)結(jié)果相當(dāng)合理，因?yàn)榇蠖鄶?shù)粒子都足于近似為球形體系。 貝克曼庫爾特LS™系列粒度分析儀采用一種偏振光散射技術(shù)來分析亞微粒子，這種技術(shù)將通過具體實(shí)例來解釋用PIDS 系統(tǒng)是如何對(duì)非球形粒子進(jìn)行分析的。 基于這個(gè)原因，貝克曼庫爾特公司開發(fā)出了高分辨率亞微粒子粒徑分析的PIDS 技術(shù)，完*了亞微粒子粒徑分析的問題。 PIDS 技術(shù)并不復(fù)雜，并且具有安裝容易的以及能夠用光散射的Mie 理論解釋的優(yōu)點(diǎn)。 PIDS 技術(shù)依賴于光的傳播特性，即光線包含一個(gè)磁性向量和一個(gè)電向量，二者成九十度角。例如如果電向量是上下方向，這個(gè)光就叫做垂直偏振光。 當(dāng)我們用一個(gè)已知波長的偏振光照射試樣時(shí)，試樣內(nèi)的電子的振動(dòng)電場將形成一個(gè)偶極子或單一振動(dòng)環(huán)，這些單一振動(dòng)環(huán)將與所傳播的光在同一個(gè)平面內(nèi)，粒子內(nèi)的振動(dòng)偶極子向除入射光源方向外的其他方向散射光線在這方面PIDS 技術(shù)具有優(yōu)勢，用三種波長的光同時(shí)照射試樣(先用水平然后垂直的偏振光)，我們測試到從試樣散射或輻射的光都超過一個(gè)角度范圍。 通過分析每個(gè)波長下水平和垂直方向散射光的不同，我們獲得了試樣粒徑分布的信息。應(yīng)該注意到我們僅僅是分析在垂直和水平方向上信號(hào)的不同而不是具體的數(shù)值。 從PIDS 信號(hào)獲得的強(qiáng)度對(duì)散射角的信息使用