HAD-ST2258A型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。

多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀/數(shù)字式四探針測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào)：HAD-ST2258A

概述

　　HAD-ST2258A型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。

　　本測(cè)試儀特贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類功能，zui大分類10類

　　儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入；具有零位、滿度自校功能；自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準(zhǔn)確、游移率小、壽命長(zhǎng)；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。

基本技術(shù)參數(shù)

1. 測(cè)量范圍、分辨率

電    阻：     1.0×10^-3 ～ 200.0×10³  Ω,    分辨率0.1×10^-3 ～ 0.1×10³  Ω

電 阻 率：     10.0×10^-3 ～ 20.0×10³ Ω-cm  分辨率0.1×10^-3 ～ 0.1×10³  Ω-cm

方塊電阻：     10.0×10^-3 ～ 20.0×10³ Ω/□  分辨率1.0×10^-3 ～ 0.1×10³  Ω/□

2. 可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸

直        徑：  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

長(zhǎng)（或高）度：  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3. 量程劃分及誤差等級(jí)

4) 工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W

5) 外形尺寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm

凈   重：≤1kg

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