高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供保證！*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過革命性的TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！

       高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供保證！*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。

技術指標：

Theta/theta立式測角儀

2Theta角度范圍：-110~168°

角度精度：0.0001度                     

Cr/Co/Cu靶，標準尺寸光管 

探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器                  

儀器尺寸：1868x1300x1135mm                            

重量：770kg

功率：6.5kW

應用

物相定性分析       結晶度及非晶相含量分析

結構精修及解析      物相定量分析

點陣參數(shù)精確測量    無標樣定量分析

微觀應變分析        晶粒尺寸分析

原位分析            殘余應力

低角度介孔材料測量  織構及ODF分析

薄膜掠入射          薄膜反射率測量

小角散射