公交卡反復彎折試驗機*用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。

HY（IC）IC卡動態(tài)彎扭試驗機
技 術 參 數(shù) 配  置

本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標準。
外形尺寸：L670 X W380 X H220
儀器重量：70kg
電 壓：AC220V±5%
功 率：35W
測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期：1~9999次 
扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°，總扭曲角度30°
長邊位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊小位移量為2mm±0.50mm，
短邊位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊小位移量為1mm±0.50mm，
夾具安裝尺寸*按照國家標準執(zhí)行。

儀器加罩前的尺寸是：
長：74.5cm，寬：38cm  高：30cm
儀器加罩后的尺寸是：
長：78cm，寬：42.5cm  高：30cm 1、 IC卡動態(tài)彎扭試驗機主機一臺；
2、配置：
1）常用調(diào)試工具一套：
2）中國臺灣STK交流調(diào)速電機系統(tǒng)一套；
3）中國臺灣衡翼高精度齒輪減速系統(tǒng)一套；
4）高精度光電計數(shù)器一套
4）中國臺灣衡翼高精度計數(shù)系統(tǒng)一套；
3、產(chǎn)品用途：
   用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。