X射線熒光測(cè)厚儀X-Strata960
應(yīng)用范圍:
•測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成.測(cè)量范圍從22(Ti)到92(U).
•5 層(4 鍍層+ 基材) / 15 元素/ 共存元素校正
•組成成分分析時(shí)可同時(shí)測(cè)定15種元素
•測(cè)試方法全面符合ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987
儀器特點(diǎn):
•50 Watt 微聚焦X光管:提高計(jì)數(shù)率, 改善測(cè)試精度, 75 W升級(jí)
•多準(zhǔn)直器系統(tǒng):提高了應(yīng)用能力
•鐳射聚焦:更高的重現(xiàn)性
•標(biāo)準(zhǔn)配置FP 軟件包:復(fù)雜樣品應(yīng)用模式,更容易建立標(biāo)準(zhǔn)曲線
•開(kāi)槽式樣品臺(tái)設(shè)計(jì):3種樣品臺(tái),更適合樣品裝載
•7種語(yǔ)言可用:用戶(hù)界面; 英文, 中文, 日文, 韓文, 法文,德文,西班牙文
技術(shù)參數(shù):
•X射線激發(fā)系統(tǒng):50 W (50kV /1mA) 微聚焦W陽(yáng)極管
•探測(cè)器:充Xe封氣正比計(jì)數(shù)器,帶二次濾光片
•Digital Pulse Processing:4096 CH 數(shù)字多道分析裝置. 自動(dòng)信號(hào)處理,包括死時(shí)間校正和消除脈沖積累
•計(jì)算機(jī):Pentium 4, 2.8 GHz, 40 GbHD, 256Mb RAM with MicrosoftTMXP
•電源:85~130 或215~265 伏特, 47Hz 到63Hz
•工作環(huán)境:50°F (10°C)到104°F (40°C) ,98% RH, 不凝固
•工作臺(tái)行程(XYZ 程控):6” X 7” x 1.9” (15.2cm X 17.8cm X 4.8cm)