SZ-M-2手持?jǐn)?shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

SZ-M-2手持?jǐn)?shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

SZ-M-2手持?jǐn)?shù)字式四探針測試儀具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點(diǎn)。適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。

基本技術(shù)參數(shù)

1. 測量范圍、分辨率

    電    阻：     0.010 ～ 9999Ω,    分辨率0.001 ～ 1 Ω

    電 阻 率：     0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm

    方塊電阻：     0.050～ 2000Ω/□   分辨率0.001 ～ 1 Ω/□

2. 材料尺寸

   手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定

   直    徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm。

   SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。

   長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm。.

   測量方位: 軸向、徑向均可.

3. 量程劃分及誤差等級

4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

凈   重：≤0.5kg

探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量。配探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。