Nicomp 380 ZLS 粒度檢測分析儀采用先進的設計理念優(yōu)化結(jié)構設計，充分有效地融合了動態(tài)光散射（DLS）和電泳光散射（ELS）技術，即可以多角度（步長0.9°）檢測分析液態(tài)納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測量Zeta電位。

Nicomp 380 ZLS 粒度檢測分析儀

產(chǎn)品介紹：

Nicomp 380 ZLS 粒度檢測分析儀復合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術的 NiComp 無約束自由擬合多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢，其優(yōu)異的解析度及重現(xiàn)性是其他同類產(chǎn)品*的。

Nicomp 380 ZLS通過檢測分析膠體顆粒的電泳遷移率測量Zeta電位。Zeta電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強度的度量，是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標，Zeta電位(正或負)越高，體系越穩(wěn)定。整機采用模塊化設計，功能擴展靈活方便。*的樣品池設計使得進樣方便快捷、用樣量少，無須進行繁瑣的樣品池校準。

工作原理：

 動態(tài)光散射法(DLS)：有時稱為準彈性光散射法(QELS)，是一種成熟的非侵入技術，可測量亞微細顆粒范圍內(nèi)的分子與顆粒的粒度及粒度分布，使用技術，粒度可小于1nm。 動態(tài)光散射法的典型應用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子表征。 懸浮在溶液中的顆粒的布朗運動，造成散射光光強的波動。 分析光強的波動得到顆粒的布朗運動速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。

儀器參數(shù)：