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納米粒度、Zetasizer Nano ZS 納米粒度、Zeta電位和分子量分析儀Zetasizer Nano 系列

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 上海匯分電子科技有限公司
  • 品牌
  • 型號 納米粒度、ZetasizerNanoZS
  • 所在地 上海市
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2015/12/1 9:00:00
  • 訪問次數(shù) 1417

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納米粒度、Zeta電位和分子量分析儀Zetasizer Nano 系列
代表當(dāng)今水平的馬爾文新一代Zetasizer系列納米粒和Zeta電位及分子量分析儀, 應(yīng)用光散射原理, 功能強(qiáng)大, 能夠簡單快捷的表征納米顆粒, 膠體和蛋白質(zhì)的物理特性,被廣泛用于納米材料及 生命科學(xué)和藥物等諸多領(lǐng)域,成為科學(xué)研究及質(zhì)量控制*的zui有效的分析系統(tǒng)。

詳細(xì)信息 在線詢價

納米粒度、Zeta電位和分子量分析儀Zetasizer Nano 系列

創(chuàng)新點:新一代Zetasizer系列經(jīng)過全面技術(shù)革新與系統(tǒng)優(yōu)化,在光路傳輸系統(tǒng),信號處理技術(shù)和軟件設(shè)計上應(yīng)用了突破性的創(chuàng)新科技,融合了新一代PALS+M3,NIBS背散射及折疊式毛細(xì)管樣品池設(shè)計等多項技術(shù),使其靈敏度,穩(wěn)定性和檢測范圍等有了革命性的提高,各種重要測量指標(biāo)表現(xiàn)亦達(dá)到了的高度(指標(biāo)詳見儀器介紹).


代表當(dāng)今水平的馬爾文新一代Zetasizer系列納米粒和Zeta電位及分子量分析儀, 應(yīng)用光散射原理, 功能強(qiáng)大, 能夠簡單快捷的表征納米顆粒, 膠體和蛋白質(zhì)的物理特性,被廣泛用于納米材料及  生命科學(xué)和藥物等諸多領(lǐng)域,成為科學(xué)研究及質(zhì)量控制*的zui有效的分析系統(tǒng)。


 

詳細(xì)信息

Zetasizer Nano ZS 儀器簡介:

新一代Zetasizer Nano 系列可以為膠體和聚合物化學(xué)專家提供綜合測量三項zui重要參數(shù)的能力,即粒度、zeta 電位和分子量。
這些系統(tǒng)中內(nèi)置了新技術(shù),提供無比的靈敏性和多功能性。

粒度 - NIBS 技術(shù)可以對粒徑范圍0.3 納米至 10 微米的顆粒和分子進(jìn)行測量。

Zeta 電位 - M3-PALS 技術(shù)能夠?qū)λ稚⒑头撬稚Ⅲw系中的 zeta 電位進(jìn)行精確的測量。

分子量 - 雪崩光電二極管檢測器和光纖檢測光學(xué)裝置提供測量分子量所需的靈敏度和穩(wěn)定性。 

Zetasizer Nano 系列中,可根據(jù)實際應(yīng)用選擇Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型號
Zetasizer Nano ZS 是 Malvern Zetasizer Nano 系列中的*,能夠測量所有三項參數(shù),而且性能絲毫不減。
Nano ZS、Z 及 ZS90 都可以使用*的一次性 zeta 電位樣品池,避免樣品之間的交叉污染。

所有系統(tǒng)均可與 MPT-2 自動滴定儀連接使用,實現(xiàn)趨勢測量和樣品制備的自動化。 




 



Zetasizer Nano ZS 技術(shù)參數(shù):

粒徑測量
zui大粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm *
濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v *
檢測角度: 175º 和 12.8º
zui小樣品量: 12 μl 

Zeta電位測量 
Zeta電位范圍: 無實際限制 
電泳遷移率: 0 – 無實際上限
zui大樣品電導(dǎo)率: 200mS/cm
zui大樣品濃度: 40% w/v
zui小樣品量: 150 μl 
粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm *

分子量測量
分子量范圍 342 - 2 ×107 Da * (動態(tài)光散射)
                      980 - 2 ×107 Da * (靜態(tài)光散射)
zui小樣品量 12 μl

* 取決于樣品



Zetasizer Nano ZS 主要特點:

新一代Zetasizer Nano系列納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀 
持續(xù)革新與優(yōu)化 樹立納米分析新*

融合多項技術(shù) 挑戰(zhàn)顆粒表征極限 
? 粒度范圍極寬:0.3-- 10 μm
? 濃度范圍廣: 0.1ppm—40%(w/v)
? 測量分子量
? 高分辨率高靈敏度Zeta電位測量 
     zeta電位樣品池具有所需樣品量低至150 μl 和檢測高濃度樣品zui高至40%(依賴于樣品)的極限能力

多項技術(shù)
? 馬爾文NIBS非侵入背側(cè)光散射技術(shù)使儀器具有zui高靈敏性
? 馬爾文的新一代PALS+M3技術(shù),將*的硬件與軟件技術(shù)相結(jié)合,有效檢測散射光的相位變化
? 馬爾文的毛細(xì)管樣品池電極組件,真正避免交叉污染

強(qiáng)大多功能系統(tǒng)
? **的APD檢測器,靈敏度無出其右
? 特制高性能He-Ne激光器,提供更高的穩(wěn)定性
? 標(biāo)準(zhǔn)配置研究級高速數(shù)字相關(guān)器
? 175度和12.8度相結(jié)合的雙角度測量模式,洞悉體系中的締合物含量


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