地表植物覆蓋度分析儀，可快速測定植被表面參數(shù)、植物冠層信息、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數(shù)、植物病蟲害程度等。

TOP-2000廣泛的運用范圍分析
任何物質都具有發(fā)射、吸收及反射電磁波的特性，這是光譜信息檢測的基本原理。通過測量每一波長輻射的吸收、發(fā)送或反射，物質的特性就能被確定。在實際應用時，僅需要選擇某些特定波段來識別被選定物質的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外（NIR） 區(qū)電磁波譜的某些波段。此波段區(qū)域可以用于量化各種脅迫導致的植物冠層發(fā)射率差異。750-900納米的近紅外波段對探測和評估植物葉片病害的嚴重性十分有用。近紅外區(qū)的長波波段可以用于估計植物的生物化學成份。這些參數(shù)的測定可以使用進行測定分析。
冠層分析系統(tǒng)又名植物多譜輻射計、，可快速測定植被表面參數(shù)、植物冠層信息、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數(shù)、植物病蟲害程度等。TOP-2000冠層分析系統(tǒng)是葉面施肥的研究、用于土壤改善和肥力的研究的好助手。該款儀器在農業(yè)測定過程中有廣泛的運用，具體在以下幾個領域中有廣泛的運用：植物生長調節(jié)劑的評估；客觀有效地對各種葉片病害的評級；監(jiān)測應用除草劑的效果 ；用于土壤改善和肥力的研究；葉面施肥的研究；灌溉日程安排的研究；干旱對植物生長和產(chǎn)量的影響 ；不同基因型的特性；試驗地變異的評估
儀器詳情：
葉綠素測定儀產(chǎn)品信息：
旋風磨：
比色計：
種質資源庫：