德國超聲波掃描顯微鏡KSI V400E是利用超聲波對微觀物體進行成像的無損檢測設備。可對各種材料、元器件內(nèi)部缺陷、空洞、氣泡、分層缺陷、雜質(zhì)、裂紋進行非破壞性檢測；還可進行涂鍍層結(jié)合質(zhì)量，內(nèi)部焊接質(zhì)量，鍵合層缺陷等檢測、空洞率計算等。

安賽斯（中國）有限公司---*檢測設備優(yōu)質(zhì)供應商

產(chǎn)品標簽：超聲波掃描顯微鏡，超聲掃描顯微鏡，聲掃顯微鏡，超聲C掃描系統(tǒng) 

德國超聲波掃描顯微鏡KSI V400E是利用超聲波對微觀物體進行成像的無損檢測設備?？蓪Ω鞣N材料、元器件內(nèi)部缺陷、空洞、氣泡、分層缺陷、雜質(zhì)、裂紋進行非破壞性檢測；還可進行涂鍍層結(jié)合質(zhì)量，內(nèi)部焊接質(zhì)量，鍵合層缺陷等檢測、空洞率計算等。 

德國超聲波掃描顯微鏡KSI V400E應用領域：

• 半導體電子行業(yè)：半導體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;

• 材料行業(yè)：復合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等；

    生物醫(yī)學：活體細胞動態(tài)研究、骨骼、血管的研究等

超聲波掃描顯微鏡在失效分析中的應用：

• 晶圓面處分層缺陷

• 錫球、晶圓、或填膠中的開裂

• 晶圓的傾斜

• 各種可能之孔洞（晶圓接合面、錫球、填膠…等）

超聲波顯微鏡的在失效分析中的優(yōu)勢：

• 非破壞性、無損檢測材料或IC芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)

• 可分層掃描、多層掃描

• 實施、直觀的圖像及分析

• 缺陷的測量及缺陷面積和數(shù)量統(tǒng)計

• 可顯示材料內(nèi)部的三維圖像

• 對人體是沒有傷害的

• 可檢測各種缺陷（裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等）

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V-400E、V-700E、V-1000E單探頭超聲波掃描顯微鏡

• -該型號超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)是實驗室、研發(fā)和工業(yè)生產(chǎn)線主流機型。

• - 掃描速度高至：2000mm/s

• - 與其它品牌機型相比掃描效率高30%

• - 小掃描范圍：200μm×200μm

• - 射頻大帶寬：500MHz

• - 新型FCT防誤判*探頭

V-duo、V-quatrro、V-Octo多探頭超聲波掃顯微鏡

• 多探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，同時使用2只、4只或8只換能器

• - 大掃描速度：2000      mm/s

• - 與其它品牌相比掃描效率高30%

• - 小掃描范圍：200μm×200μm

• - 帶寬：550MHz

• - 新型換能器

Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描系統(tǒng)

它是聲學顯微成像系統(tǒng)和光學顯微成像系統(tǒng)的*結(jié)合。

- 換能器頻率范圍：100MHz——2000MHz頻率實現(xiàn)高分辨率
- 探測深度<100nm
- 特殊平均模式使信噪比更好
- 同步光學成像和超聲波成像使樣品在結(jié)構(gòu)上、生物化學性能上和機械性能上具有關聯(lián)性。
- 光聲效應增強了對比性
- 大放大倍數(shù)：1000倍
- 入射光顯微鏡和倒置光學顯微鏡可調(diào)節(jié)