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UP- WLI+AFM 雙模式三維輪廓儀、臺階儀

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面議

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 艾泰克儀器科技（南京）有限公司
品牌
型號 UP-WLI+AFM
所在地 南京市
廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
更新時間 2019/10/10 13:34:55
訪問次數(shù) 672

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

產(chǎn)品簡介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

雙模式三維輪廓儀、臺階儀白光干涉能夠進(jìn)行高分辨率圖像的掃描，對表面進(jìn)行分析。兩種工作模式-相移和白光掃描模式,能夠高精度測量粗糙或者光滑的樣品表面。

詳細(xì)信息在線詢價

特點：一臺設(shè)備上集成非接觸式白光干涉形貌儀+高精度原子力顯微鏡

白光干涉

白光干涉能夠進(jìn)行高分辨率圖像的掃描，對表面進(jìn)行分析。兩種工作模式-相移和白光掃描模式,能夠高精度測量粗糙或者光滑的樣品表面。

?      好的技術(shù)來實現(xiàn)高Z向分辨率

?      白光干涉法和相移兩種模式實現(xiàn)Z方向的高分辨率。
?      快速圖像處理系統(tǒng)達(dá)到400萬像素
?      四色LED相機(jī)

?      更大的垂直測量范圍達(dá)10毫米

?      150 mmx150mm馬達(dá)控制平臺。

?      樣品粗糙度，粗糙表面高度拋光后的光潔度以及表面結(jié)構(gòu)測量，如陶瓷、塑料和輥鋼。

?      SPIP專業(yè)數(shù)據(jù)分析軟件

原子力顯微鏡

探針式輪廓測量能夠進(jìn)行材料在納米尺度水平的測試。提供掃描范圍70 x70um，探針更換簡單。

?      好的技術(shù)來實現(xiàn)Z和XY方向上的高分辨率

?      X,Y和Z方向上納米級的分辨率和精度。
?      線性XY壓電陶瓷掃描

?      包括振動和不振動的模式

?      可選的側(cè)向力和相位模成像