PHL雙折射測量儀PA-300是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內，特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。

PHL雙折射測量儀PA-300主要特點：

• 操作簡單，測量速度可以快到3秒。

• 視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。

• 更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點。

• 具有多種分析功能和測量結果的比較。

• 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。

• 高達2056x2464像素的偏振相機。

PHL雙折射測量儀PA-300應用領域：

• 光學鏡片

• 智能手機玻璃基板

• 碳化硅，藍寶石等

技術參數：