neaSNOM是德國neaspec公司推出的第三代散射式近場光學(xué)顯微鏡（簡稱s-SNOM），其采用了化的散射式核心設(shè)計(jì)技術(shù)，*的提高了光學(xué)分辨率，并且不依賴于入射激光的波長，能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內(nèi)，提供優(yōu)于10nm空間分辨率的光譜和近場光學(xué)圖像。由于其高度的可靠性和可重復(fù)性，neaSNOM業(yè)已成為納米光學(xué)領(lǐng)域熱點(diǎn)研究方向的科研設(shè)備，在等離基元、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方向得到了許多重要科研成果。近，neaspec公司成功開發(fā)了可見至太赫茲高分辨光譜和成像綜合系統(tǒng)，將上述s-SNOM功能與納米紅外（FTIR）、針尖增強(qiáng)拉曼（TERS）、超快光譜（ultrafast）和太赫茲光譜（THz）進(jìn)行聯(lián)用，可以為廣大科學(xué)工作者在等離子激元、二維材料聲子極化、半導(dǎo)體載流子濃度分布、生物材料紅外表征、電子激發(fā)及衰減過程等的研究上提供相關(guān)支持。