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TE274 微距測試卡

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斜邊用于分辨率測量

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微距測試卡簡介

  微距測試卡

品牌:ESSER愛莎/Sine Image
型號:TE274
尺寸:120 x120 mm
材料:高清相紙
比例:3:2
類型:反射式

微距測試卡TE274設計用于分析在微距模式下單反相機系統(tǒng)以及小型相機的微距鏡頭的分辨率和失真。


微距測試卡TE274由兩部分組成:

斜邊用于分辨率測量

該測試卡包含15個斜邊結構,每個具有兩個垂直和兩個水平

邊緣和聚焦輔助在中心。斜邊結構傾斜5°并且具有大約97%的調制。

斜邊以一種方式布置,以在圖像高度(3:2縱橫比)的30%,45%,60%和75%處遞送軸分辨率和分辨率。

交叉圖用于失真測量

白色背景上的黑色十字用于確定透鏡幾何畸變(LGD)和色差。


微距測試卡TE274使用方法

將微距測試卡放在相機外的桌子上。從測試卡的上部(斜邊)開始,將框架中的測試卡滑動到向下位置。調整相機和測試卡之間的距離,直到斜邊圖表填滿圖像高度。拍攝圖像后,將圖框滑動到上邊框。現(xiàn)在失真部分恰好在用于拍攝圖像的位置。不需要重新調整或重新聚焦。


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