SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)具有*的內(nèi)置推掃技術(shù)、雙CCD可預(yù)覽、一鍵式測量等特點(diǎn)，可提供實(shí)驗(yàn)室暗箱、實(shí)驗(yàn)室平臺及顯微測量等多種操作模式。后期光譜提取與特征提取等技術(shù)可上滿足用戶的需求，在文物保護(hù)、修復(fù)、真?zhèn)巫R別等方面具有重要作用。

SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)

目前文物鑒定的傳統(tǒng)方法中很多是有損或微損的，需取樣才能分析；而且，有損測試的分析結(jié)果只局限于測試點(diǎn)或取樣點(diǎn)，而不能*代表未測試部位的信息。高光譜成像技術(shù)能同時提供待測物整體的圖像和光譜信息，可以對目標(biāo)物進(jìn)行高光譜識別和分類；其具有快速測量、能進(jìn)行精細(xì)分類與識別等優(yōu)點(diǎn)，且對文物無損傷，在文物分析領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。

SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)具有*的內(nèi)置推掃技術(shù)、雙CCD可預(yù)覽、一鍵式測量等特點(diǎn)，可提供實(shí)驗(yàn)室暗箱、實(shí)驗(yàn)室平臺及顯微測量等多種操作模式。后期光譜提取與特征提取等技術(shù)可上滿足用戶的需求，在文物保護(hù)、修復(fù)、真?zhèn)巫R別等方面具有重要作用。

※ 快速無損獲取高光譜圖像信息，數(shù)據(jù)真實(shí)可靠

※ 雙CCD設(shè)計(jì)，直接預(yù)覽測量區(qū)域，所見即所得

※ 內(nèi)置式掃描，圖像無畸變，自動扣除暗電流

※ 不僅可獲取目標(biāo)反射率，還可獲取輻亮度值

※ 可自動連續(xù)測量，監(jiān)測目標(biāo)光譜動態(tài)變化

※ 軟件自帶數(shù)據(jù)標(biāo)定、高光譜分類等多種功能

※ 軟件實(shí)時分析，光譜提取、光譜分類與結(jié)果輸出

※ 可滿足暗箱系統(tǒng)-室內(nèi)實(shí)驗(yàn)臺-顯微鏡等多種使用條件

SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)應(yīng)用案例：

產(chǎn)地：美國