高精度X射線晶體定向儀
廣泛用于晶體材料科研、教學(xué)、生產(chǎn)、加工、制造等行業(yè)。

高精度X射線晶體定向儀

技術(shù)特性： 一、用途：
DG-系列高精度X射線晶體定向儀利用X射線衍射原理，可精確、快速測定各種天然和人造單晶體（壓電晶體、光學(xué)晶體、激光晶體和各種半導(dǎo)體晶體等）晶面的衍射角度，廣泛用于晶體材料科研、教學(xué)、生產(chǎn)、加工、制造等行業(yè)。
二、特點：
1、操作簡單、靈活、實用。
2、角度采用數(shù)字顯示，觀察直觀，減少了讀數(shù)誤差。
3、顯示可預(yù)置任意角度，便于測試各種晶體材料。
4、雙測角儀可同時工作，提高了效率。
5、旋轉(zhuǎn)光閘系統(tǒng)，結(jié)構(gòu)設(shè)計合理，有效避免了X射線對人體的危害，安全、環(huán)保、高效。
6、主機配備X射線單色系統(tǒng)，使整機具有精確的角度測定和*的分辨率。，

高精度X射線晶體定向儀
三、主要技術(shù)參數(shù)：
X射線管： 銅靶、陽極接地、風(fēng)冷。
管電壓：30KVP
管電流：0~5mA（連續(xù)可調(diào)）
輸入電源容量：交流220V 3A 50Hz
探測器電壓：550-1200DCV
角度顯示：數(shù)字顯示
四、測角儀
θ軸宣傳角度范圍：-10°~ -60°
2θ軸旋轉(zhuǎn)角度范圍：-10°~ -60°
五、精度：15’’（用標(biāo)準(zhǔn)石英片1011）
角度顯示方式：數(shù)字顯示角度
角度顯示精度：10’’
精度：15’’
用途：高精度測試晶體片