Photonis提供普遍的飛行時(shí)間探測(cè)器，以支持便攜式，超快速和雙極性儀器，為客戶提供較準(zhǔn)確的樣品分析。

產(chǎn)品特點(diǎn)

較好的分析效果；

精細(xì)測(cè)量；

較快和雙極性解決方案；

較大化質(zhì)量分辨率。

下面介紹幾款飛行時(shí)間探測(cè)器

名稱	圖片	簡(jiǎn)介
UltraFast™TOF高性能探測(cè)器		分析速度快，是一般探測(cè)器速度的3至5倍，這些探測(cè)器具有18mm，2微米孔徑的MountingPad™MCP或25mm，5微米孔徑的MountingPad™MCP。
Gen2 UltraFast™TOF高性能探測(cè)器		配備了一個(gè)或多個(gè)的TruFlite™MCP，使其速度比同類探測(cè)器快兩倍。提供小于200ps的脈沖寬度和接近對(duì)稱的120ps的上升和下降時(shí)間，使探測(cè)器具有較好的探測(cè)靈敏度和質(zhì)量分辨率。Gen2探測(cè)器易于安裝，具有18mm的輸入?yún)^(qū)域，前置法蘭和SMA輸出。
微型TOF探測(cè)器		面積為8mm，是為便攜式質(zhì)譜儀優(yōu)化而制造的產(chǎn)品，可提供出探測(cè)靈敏度和質(zhì)量分辨率。每個(gè)探測(cè)器都利用兩片安裝在緊湊型真空法蘭上的5微米孔徑的LongLife™MCPs（以Chevron排列）來簡(jiǎn)化安裝。
高溫TOF探測(cè)器		這種專門設(shè)計(jì)的飛行時(shí)間探測(cè)器經(jīng)過優(yōu)化，能夠提供分辨率高，同時(shí)能夠承受150℃的工作溫度和高達(dá)300℃的烘烤溫度，在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，能夠快速進(jìn)行腔室除氣，同時(shí)減少儀器中的多余噪音。
BiPolar TOF探測(cè)器		可提高正負(fù)離子的探測(cè)效率，每個(gè)BiPolar TOF探測(cè)器都配備了擴(kuò)展動(dòng)態(tài)范圍的MCPs，用以進(jìn)一步提高探測(cè)靈敏度并優(yōu)化分析。這些質(zhì)譜儀探測(cè)器可在18、25和40 mm的使用面積中使用，將提高儀器的性能。
高質(zhì)量BiPolar TOF探測(cè)器		由LongLife™微通道板，高速閃爍體和光電倍增管等組成，能夠以30 kV的隔離度探測(cè)正離子和負(fù)離子，提供更高的探測(cè)效率，復(fù)雜度遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于當(dāng)今的其他探測(cè)器。上升時(shí)間不到1.2納秒的FWHM，是要求靈敏的高質(zhì)量探測(cè)應(yīng)用（如MALDI-TOF）的理想解決方案。
離軸BiPolar Tof探測(cè)器		該探測(cè)器通過將PMT與閃爍體成直角安裝來支持非線性配置，離軸BiPolar TOF探測(cè)器僅需要25mm的圓柱空間，其脈沖寬度小于2納秒，并且輸出電流高。
同軸BiPolar TOF探測(cè)器		同軸BiPolar TOF探測(cè)器，減少飛行時(shí)間質(zhì)譜儀真空室的尺寸，通過提供在探測(cè)器后面生成離子并將其發(fā)射到簡(jiǎn)化的反射鏡以進(jìn)行捕獲和分析的選項(xiàng)，改變了飛行時(shí)間質(zhì)譜儀，該探測(cè)器提供18mm的使用面積，并提供4.5英寸或6英寸的法蘭選

相關(guān)應(yīng)用

產(chǎn)品資料

Advanced_and_BiPolar_TOF

ASMS2012_RITZAUV2

Time-of-Flight-Brochure