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HAAKE旋轉(zhuǎn)流變儀 Mars40&60(HAAKE MARSIII流變儀平臺)

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HAAKE 哈克 MARS系列流變儀工作站




多技術(shù)聯(lián)用加強(qiáng)材料表征

組合測量方法
流變測量法是提供樣品在特定條件下的性能信息的一種“宏觀”測量方法。材料的力學(xué)特性取決于其微觀層面的結(jié)構(gòu)。為了確定流變特性形成的原因,須將流變測量與微觀測量相結(jié)合,例如采用 FTIR* 或顯微鏡法。

采用組合方法的優(yōu)勢
①制備的樣品相同  ②測量條件相同  ③實驗時間更短  ④測試結(jié)果相關(guān)性

RheoScope 模塊:流變學(xué) + 光學(xué)顯微學(xué)
①流變測量與微觀結(jié)構(gòu)圖像同步觀察采集  ②高度集成化 HAAKE MARS 顯微流變單元  ③流變數(shù)據(jù)和微觀圖像在同一軟件中顯示  ④在剪切作用下的分析結(jié)構(gòu)變化  ⑤圖像分析軟件確定顆粒尺寸、粒徑分布以及結(jié)構(gòu)分析

應(yīng)用 / 樣品
①食物:脂肪、淀粉  ②聚合物:溶液、熔化物  ③制藥 / 化妝品:面霜 / 乳液  ④涂料 / 墨水:印染漿、增稠劑  ⑤石化:原油、鉆井液


固化性能:哈克流變儀配備 UV 紫外光源或者輻射對流爐 CTC 可以幫助客戶方便的研究樣品的固化過程,采用 Rheonaut 紅外 - 流變聯(lián)用模塊還可以幫助客戶在分子層面上分析樣品固化過程中發(fā)生的化學(xué)變化。



Rheonaut :流變學(xué) + 傅里葉變換紅外光譜學(xué)
①流變測試與 FTIR 紅外光譜同步測量  ②HAAKE MARS集成技術(shù)  ③ ATR(衰減全反射)原理  ④剪切 / 形變作用下,分子結(jié)構(gòu)變化分析  ⑤可用于熱固化 /UV 固化反應(yīng)深入研究

應(yīng)用 / 樣品
①食品:乳膠穩(wěn)定性  ②聚合物:剪切作用下的分子取向  ③制藥:凝膠的網(wǎng)絡(luò)組成、蛋白質(zhì)的變性  ④涂料 / 油墨:UV 和熱固化的化學(xué)反應(yīng)  ⑤其他:粘合劑、膠水固化反應(yīng)




RheoScope 模塊規(guī)格Rheonaut 模塊技術(shù)規(guī)范
透鏡光譜與多個標(biāo)準(zhǔn) IR 光譜儀兼容(需配置側(cè)
面接口)
顯微鏡通過軟件控制的伺服電機(jī)進(jìn)行焦點和徑向定位測量原理ATR 采用單反射晶體(金剛石)
鏡頭™5x、10x、20x 和 50xDTGS(氘化三甘氨硫酸酯)檢測器
光源™150 W,12 V,波長范圍:380 nm -750 nmMCT(碲鎘汞)檢測器,用于快速采集光譜
分辨率1 µm (20x 鏡頭 )數(shù)據(jù)采集與存儲HAAKE RheoWin軟件可集成控制 FTIR 光譜儀(針對選定的光
譜儀型號),自動同步流變數(shù)據(jù)和 FTIR 光譜數(shù)據(jù)。
景深5 µm (20x鏡頭 )
反差光補(bǔ)可通過軟件控制的伺服電機(jī)調(diào)整偏光鏡溫度范圍
攝像機(jī)黑白 " 漸進(jìn)式 " 掃描 CCD 攝像頭,1024×768 像素,C 型接頭和 IEEE 1394(Firewire)接口。標(biāo)準(zhǔn)版0 - 120℃(Peltier溫控模塊)
數(shù)據(jù)采集與存儲高溫選項環(huán)境溫度 - 400℃(電加熱溫控模塊)
數(shù)據(jù)采集在 HAAKE RheoWin 4 軟件中每秒®多達(dá) 30 張圖片測量轉(zhuǎn)子直徑高達(dá) 60 mm 的平板和錐板
存儲按照圖片(3 種標(biāo)準(zhǔn)圖片格式:TIFF、BMP、LWF)或視頻順序(可配置的數(shù)據(jù)壓縮)。

™此組件使用標(biāo)準(zhǔn)接口,單個組件適用

®取決于所用計算機(jī)的性能參數(shù)

©取決于恒溫器

溫度范圍
標(biāo)準(zhǔn)版-5 – 120℃©(液體溫度控制單元)
高溫選項-5 – 300℃(電加熱溫度控制單元)
測量轉(zhuǎn)子*使用拋光表面平板 / 平板和平板 / 錐板測量轉(zhuǎn)子。

HAAKE MARS 技術(shù)指標(biāo)

技術(shù)參數(shù)HAAKE MARS40HAAKE MARS60 特點是否適用于 HAAKE MARS 40 / 60
小旋轉(zhuǎn)扭矩 CS(nNm)2010CD-OSC ©
小旋轉(zhuǎn)扭矩 CR(nNm)2010OSC 原始數(shù)據(jù) / Lissajous
小振蕩扭矩 CS(nNm)102多波模式
小振蕩扭矩 CD(nNm)102擠壓和粘性試驗 / 質(zhì)構(gòu)分析的力度 / 速度 / 位移是/是/是
大扭矩(mNm)200200圖像采集攝像頭標(biāo)準(zhǔn)(USB、Firewire)
扭矩分辨率(nNm)0.10.1低慣量鈦合金測量轉(zhuǎn)子標(biāo)準(zhǔn)
馬達(dá)慣量(kmg²)10﹣?10﹣?各種直徑 / 表面 / 材料的可更換下測量板是 / 是 / 是
馬達(dá)類型拖杯拖杯轉(zhuǎn)子 / 溫度模塊的快速接頭是 / 是
軸承類型空氣軸承:2 個經(jīng)向1 個軸向空氣軸承:2 個經(jīng)向1 個軸向轉(zhuǎn)子 / 溫度模塊識別是 / 是
角位移分辨率(nrad)1212 
小旋轉(zhuǎn)速度 CS(rpm)10﹣?10﹣?溫度控制模塊
小旋轉(zhuǎn)速度 CR(rpm)10﹣?10﹣?Peltier 平行板-60 – 200℃
大旋轉(zhuǎn)速度(rpm)1500(4500)™4500電加熱上罩-40 – 400℃@
速度階躍間隔(ms)1010液體控溫平行板-40 – 200℃
小振蕩頻率(Hz)10﹣?10﹣?電加熱平行板-40 – 400℃
大振蕩頻率(Hz)100100Peltier 同軸圓筒-40 – 200℃
小法向力(N)0.010.01液體控溫同軸圓筒-40 – 180℃
大法向力(N)5050電加熱同軸圓筒-20 – 300℃@
法向力分辨率(N)0.0010.001輻射對流爐-150 – 600℃
大升降行程(mm)240240™ 高剪切速率選項
® 由溫度模塊決定
©實際變形控制
@使用合適的測量轉(zhuǎn)子時
間隙分辨率(µm)0.50.5
小升降速度(µm/s)0.020.02
大升降速度(mm/s)2020
低溫度(℃)®-150-150
溫度(℃)®600600
尺寸規(guī)格 W×D×H(mm)600×600×890600×600×890
重量(kg)5959


HAAKE Rheonaut 流變-紅外聯(lián)用測試單元
HAAKE  Rheonaut  流變-紅外聯(lián)用單元將HAAKE MARS 流變儀與 Nicolet  FTIR 紅外光譜儀有機(jī)地結(jié)合在-起。Rheonaut  技術(shù)中采用了衰減總反射( ATR )的測量原 理 ,所得光譜結(jié)果與樣品厚度無關(guān)。在流變儀測量過程中固定的下平臺,裝入了一個對紅外透明的晶體。根據(jù)應(yīng)用的不同,可以提供不同的晶體和溫控結(jié)構(gòu) ,Peltier半導(dǎo)體溫控單元(-20 ~ 120   ° c  )或電加熱溫控單元(室溫 ~ 400℃)??梢赃x配幾組偏振片 ,完成對人射紅外光在平行和垂直軸上的手動或自動控制起偏功能。
優(yōu)勢和特點:
?在小應(yīng)變振蕩( SAOS ) ,大應(yīng)變振蕩模式( LAOS )或剪切模式下同步獲得樣晶紅外光譜和流變特性,在分子級結(jié)構(gòu)變化分析和解釋流變性能
?制備的樣晶和外在測試條件*相同,試驗時間大大縮短
?HAAKE MARS 集成技術(shù)
?內(nèi)建 ATR (衰減總反射)技術(shù)的單反射晶體(金剛石)和DTGS檢測器
?廣泛應(yīng)用于聚合物、化工、食品、藥品、涂料、化妝品等多個領(lǐng)域

HAAKE流變與拉曼聯(lián)用解決方案

HAAKE流變-拉曼聯(lián)用單元是流變-分子光譜聯(lián)用技術(shù)又一新的突破 ,將HAAKE MARS 流變儀與 Nicolet DXR2 系列或 iXR 拉曼光譜儀無縫連接,同步采集,深入研究樣品分子層面結(jié)構(gòu)變化與宏觀性能的聯(lián)系。拉曼光譜擁有非接觸和無破壞的特點, 可對樣品進(jìn)行全面快速分析并可與紅外光譜相互補(bǔ)充。在流變測量過程中固定的下部平臺,裝入整套的光學(xué)系統(tǒng),可直接將激光照射在樣品上進(jìn)行同步測試,并可收集拉曼顯微照片(配 備顯微拉曼附件)。此聯(lián)用單元可實現(xiàn)-5 ~ 300 ℃的溫度控制, 可以選配不同波長的激光光源。
?流變學(xué)數(shù)據(jù)與拉曼光譜信息直接關(guān)聯(lián)
?可以在線檢測外力作用下樣品形變數(shù)據(jù)以及形變過程分子結(jié)構(gòu)、構(gòu)象、取向的光譜信息
?可以同時獲得聚合物粘彈性特征與分子結(jié)構(gòu),拘象,取向等與時間關(guān)聯(lián)的光譜信息
?聯(lián)用表征技術(shù)可大大縮減測試時間


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