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LA-xx DC/HF SemiProbe高頻探針臺(tái)-手動(dòng)探針臺(tái)-半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)

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SemiProbe-手動(dòng)探針臺(tái)手動(dòng)探針臺(tái)可配備50mm、100mm、150mm或200mm卡盤(pán)和支架,并可配備許多與PS4L系列探針臺(tái)中所使用的相同的熱卡盤(pán)、光學(xué)元件和操縱器??稍谝院笸ㄟ^(guò)添加許多附件來(lái)增強(qiáng)系統(tǒng)功能。Lab Assistant是一種經(jīng)濟(jì)、小巧的探針系統(tǒng),適用于研發(fā)中心和大學(xué),具有工作所需的穩(wěn)定性和靈活性。它被配置為一個(gè)完整的系統(tǒng),模塊化設(shè)計(jì),簡(jiǎn)單易操作、輕便可攜帶且價(jià)格實(shí)惠。

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SemiProbe高頻探針臺(tái)-手動(dòng)探針臺(tái)-半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái) 產(chǎn)品描述:

SemiProbe高頻探針臺(tái)-手動(dòng)探針臺(tái)-半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái) 是一款模塊化設(shè)計(jì)、價(jià)格適中、體積小巧的探針系統(tǒng),適用于研發(fā)中心和各大高校,具有高穩(wěn)定性和靈活性,滿足實(shí)驗(yàn)室測(cè)量的需求。它配置完整,簡(jiǎn)單易操作,安裝可經(jīng)由客戶(hù)完成,操作可在一小時(shí)內(nèi)完成。Lab Assistant 探針臺(tái)可以配置為直流或高頻/微波測(cè)試配置,包括一系列精密配件,通常只在更大更昂貴的探針系統(tǒng)中使用。與之相比,一般情況下,這種功能的探針臺(tái)是非常昂貴的,但這款實(shí)驗(yàn)室探針臺(tái)以非常有競(jìng)爭(zhēng)力的價(jià)格實(shí)現(xiàn)提供了多種產(chǎn)品特點(diǎn)和功能選項(xiàng)—多種平臺(tái)、卡盤(pán)、光學(xué)組件和操縱器。并且可在之后增加各種附件從而增強(qiáng)系統(tǒng)功能性。此外,該探針臺(tái)有50mm、100mm、150mm或200mm卡盤(pán)和支架可供選擇,并可配備許多與PS4L系列探針臺(tái)中所使用的相同的熱卡盤(pán)、光學(xué)元件和操縱器。

SemiProbe高頻探針臺(tái)-手動(dòng)探針臺(tái)-半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)

SemiProbe高頻探針臺(tái)-手動(dòng)探針臺(tái)-半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái) 配置包括:

  • 硬鋁基座,帶有橡膠隔振腳
  • 晶圓平臺(tái)粗調(diào)和細(xì)調(diào),可更換級(jí)選項(xiàng)-封裝部件或熱部件
  • 精細(xì)的平臺(tái)移動(dòng),使用精準(zhǔn)的測(cè)微計(jì)控制— X (25 mm), Y (25 mm) & Z (>20 mm)
  • 粗略(360°)和精細(xì)(10°)θ調(diào)整
  • 卡盤(pán),附有隔離適配器和真空控制系統(tǒng)
  • 鋁與不銹鋼鍍盤(pán),附有可拆卸的前鍥
  • 精密測(cè)微計(jì)驅(qū)動(dòng)壓盤(pán)Z上升(13mm)
  • 顯微鏡柱,附有同軸和線性顯微鏡X,Y移動(dòng)100 mm x 100mm
  • 7:1變焦(100x 放大倍率) 三目立體變焦顯微鏡,工作距離為100mm
  • 兩個(gè)DC MA-8005 操縱器,帶磁性底座,面板和同軸探針臂(標(biāo)準(zhǔn),F(xiàn)or LA-xx DC)
  • 兩個(gè)DC MA-8000操縱器,帶磁性底座和HF西/東探測(cè)臂(標(biāo)準(zhǔn),F(xiàn)or LA-xx HF)

產(chǎn)品特點(diǎn):

  • 系統(tǒng)配置完整
  • 可更換組件-可作為單獨(dú)或多個(gè)應(yīng)用系統(tǒng)使用
  • 模塊化設(shè)計(jì)-可增加多個(gè)附件實(shí)現(xiàn)更多系統(tǒng)功能
  • 體積小-適用于桌面、小型工作臺(tái)、手套式操作箱或暗箱
  • 提供直流,高頻/微波和開(kāi)爾文版本
  • 簡(jiǎn)單易操作,價(jià)格實(shí)惠

探針臺(tái)應(yīng)用范圍:

  • 光伏工業(yè)
  • 材料科學(xué)
  • 光電行業(yè)
  • 失效分析
  • 通信器件測(cè)試
  • 微機(jī)電技術(shù)

技術(shù)參數(shù)(型號(hào):LA-100 DC/HF):

  • 尺寸:420 mm X 540 mm X 535 mm
  • 重量:32 kg
  • 電源:AC 110/220V AC 50-60 Hz,20A
  • 真空:23 Hg 或 -0.8 bar
  • 基座:帶橡膠隔振腳的實(shí)心鋁剛性基座
  • 卡盤(pán)X-Y軸移動(dòng):用于粗調(diào)的可調(diào)磁性滑軌(>100 mm)
  • 微調(diào)-25 mm(X,Y)
  • 整個(gè)支架可通過(guò)磁性基座輕松拆卸
  • 卡盤(pán)Z移動(dòng):行程:20 mm
  • θ移動(dòng):360°粗調(diào),10°微調(diào)
  • 卡盤(pán)類(lèi)型:真空或機(jī)械夾緊,圓形或方形,高頻等
  • 壓盤(pán):鋁和不銹鋼頂部,可拆卸前楔
  • 操縱器固定-磁性(標(biāo)準(zhǔn)),真空(可選真空歧管)
  • 壓盤(pán)位移:測(cè)微計(jì)驅(qū)動(dòng)調(diào)節(jié)壓盤(pán)Z
  • 顯微鏡安裝:剛性鋁柱(標(biāo)準(zhǔn))或吊桿
  • 顯微鏡移動(dòng):手動(dòng)移動(dòng)同軸和線性精密顯微鏡-100mm(X)和100mm(Y)

SemiProbe高頻探針臺(tái)-手動(dòng)探針臺(tái)-半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái) 可選配件:

CCTV系統(tǒng)(攝像機(jī)、監(jiān)視器和適配器)、操縱器、探針臂、探針、電纜、光學(xué)隔振臺(tái),暗箱等

SemiProbe高頻探針臺(tái)-手動(dòng)探針臺(tái)-半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)

標(biāo)簽:手動(dòng)探針臺(tái)探針臺(tái)隔振隔振臺(tái)


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