艾思荔半導體PCT老化試驗箱的目的是提高環(huán)境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的磨耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

 溫馨提示：
網(wǎng)上只是展示價格，由于每家客戶測試條件不一樣，所以產(chǎn)品價格也不一樣，實際成交價格，以業(yè)務溝通報價為主。
                                          艾思荔檢測儀器

艾思荔半導體PCT老化試驗箱的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的磨耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

PCT老化試驗箱產(chǎn)品規(guī)格：  

溫度范圍：+105.0℃~+142.9℃

濕度范圍：75%~100%RH

溫濕度穩(wěn)定度：±0.5℃、±3℃RH

溫度分布均度：±1℃

壓力范圍：0.2~2.0kg/cm2G（選配0.2~4.0kg/cm2G）

升溫時間：室溫上升140℃需約120分鐘

內(nèi)箱尺寸：￠45×45/￠65×60

材質(zhì)：內(nèi)外不銹鋼板

電源：1￠220V60HZ/380V50HZ20A

PCT老化試驗箱產(chǎn)品特點：  

1、圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計方便使用者取置待測品

2、馬達驅(qū)動磁性風扇機構(gòu)循環(huán)（溫度/濕度分布均勻佳）

3、安全程序自動停機,自動泄壓,自動破真空,自動給水

4、設(shè)備本體材質(zhì)SUS#316,外部包裝材質(zhì)SUS#304

5、電磁風扇馬達循環(huán)裝置濕度分布均勻

6、飽和或不飽和可程控模式

7、溫度/濕度/濕球/溫度/壓力/電壓顯示

半導體PCT老化試驗箱詳細說明：

    隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（電工委員會）所標準化。