PS-200紫外可見光譜儀可以測量300～850nm的入射、反射和透射光譜，通過電腦軟件可以直接讀出入射光、反射光、透射光的光譜圖。
產(chǎn)地： 美國

用途：

PS-200紫外可見光譜儀可以測量300～850nm的入射、反射和透射光譜，通過電腦軟件可以直接讀出入射光、反射光、透射光的光譜圖。

特點：        

便攜堅固的鋁制外殼設(shè)計        

APOGEE 的余弦校正器，確保低角度光的精確測量        

在標定的測量范圍300—1000nm((NIST 可追溯性)內(nèi)分辨率小于1nm

標準軟件特征：    

   發(fā)光測量：測量以瓦特每平方米每納米或摩爾每平方米每秒每納米為單位；同時顯示完整的PPF值。
   照明度測量：測量以流明每平方米每納米或尺燭光每平方英尺為單位；同時顯示完整的LUX值。
   CIE應(yīng)用：系統(tǒng)顯示CIE制定的1931年X、Y色度圖。照明模式下顯示占有優(yōu)勢的波長和純度，發(fā)光模式下顯示顏色溫度。
   分光比色計：測量反射光線的顏色。同時系統(tǒng)會顯示非自照明的顏色空間圖表作為參照，圖表對色彩濃度、色差、X、Y、三基色和Delta-E等做了色彩評估和說明，并提供新的Delta-E色彩對比表。
   化學(xué)成分測量：測量化學(xué)成分的濃度。同時系統(tǒng)會顯示濃度標度，或者將之前已經(jīng)測量好的化學(xué)成分濃度與未知的樣品做對比。
   UV測量：測量UV能量分布狀態(tài)。將UVA、UVB、UVC、UVA/UVB比率等以瓦特為單位繪制線形圖；提供紅斑和黑素原發(fā)生作用的最大時間。

技術(shù)規(guī)格：

產(chǎn)地：美國