應(yīng)用材料測(cè)試零件測(cè)試和分析強(qiáng)度分析振動(dòng)分析耐久性分析碰撞分析特點(diǎn)解決接觸式無法解決的問題描述ARAMIS系統(tǒng)可以獲得動(dòng)靜態(tài)加載下的試樣和零件的三坐標(biāo)、三維位移和變形速度、加速度、應(yīng)變率，以及6自由度測(cè)量結(jié)果

應(yīng)用

• 材料測(cè)試
• 零件測(cè)試和分析
• 強(qiáng)度分析
• 振動(dòng)分析
• 耐久性分析
• 碰撞分析

特點(diǎn)

解決接觸式無法解決的問題

描述

     ARAMIS系統(tǒng)可以獲得動(dòng)靜態(tài)加載下的試樣和零件的三坐標(biāo)、三維位移和變形速度、加速度、應(yīng)變率，以及6自由度測(cè)量結(jié)果。通過這些測(cè)量數(shù)據(jù)，人們可以獲得材料力學(xué)參數(shù)，驗(yàn)證有限元計(jì)算結(jié)果，記錄組件碰撞，跟蹤運(yùn)動(dòng)軌跡，和分析零件變形。ARAMIS是運(yùn)用數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的非接觸式光學(xué)測(cè)量方式，不受被測(cè)材料限制。 ARAMIS將全場(chǎng)測(cè)量和標(biāo)靶點(diǎn)測(cè)量技術(shù)結(jié)合起來，測(cè)量范圍涵蓋幾毫米的試樣到數(shù)十米的結(jié)構(gòu)件。無需對(duì)試樣進(jìn)行復(fù)雜和費(fèi)時(shí)的制備，不受試樣的幾何形狀及溫度局限。測(cè)量精度高，分辨率可以達(dá)到亞微米級(jí)。

主要參數(shù)：