BOS-18020748537 顯微顆粒圖像分析儀
參考價 | 面議 |
- 公司名稱 廈門搏仕檢測設備有限公司
- 品牌
- 型號 BOS-18020748537
- 所在地 廈門市
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2021/10/26 14:55:18
- 訪問次數(shù) 420
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BOS-T180顯微顆粒圖像分析儀是國內(nèi)蕞心一代靜態(tài)顆粒圖像分析設備,它采用蕞心的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件,將計算機圖像學與顆粒粒度及粒形分析理論玩美結(jié)合,在獲得清晰的顆粒圖像的同時,將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來,使用戶可以詳細的了解顆粒。
一、顯微顆粒圖像分析儀產(chǎn)品簡介
BOS-T180是國內(nèi)蕞心一代靜態(tài)顆粒圖像分析設備,它采用蕞心的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件,將計算機圖像學與顆粒粒度及粒形分析理論玩美結(jié)合,在獲得清晰的顆粒圖像的同時,將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來,使用戶可以詳細的了解顆粒。此外,該款儀器還賦予了自動化、智能化能時代性的標志、使其操作更簡便、分析更智能、結(jié)果更穩(wěn)定,是顆粒粒度測試及粒形分析的手選搭檔和得力助手。
二、顯微顆粒圖像分析儀性能特點
直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計算機屏幕,用戶可以直觀且荃面了解顆粒的表面及形狀屬性;
玩美拼接多幅圖像 將選取不同視場拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅,使參與分析的顆粒數(shù)量更多,測試結(jié)果更具代表性;
自動分割粘連顆粒 采用更*的顆粒識別算法,對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割,顯著提高粘連顆粒分割準確率,減少人為參與,有效縮短圖像處理時間;
自適應二值化功能 采用一種自適應二值化功能,使其進行圖像二值化處理時不受拍攝光線的影響,避免了因光線不均勻等因素而導致顆粒信息丟失的情況,為后續(xù)處理的精準度奠定基礎;
自動處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動處理工具集,集成了二值化、肖除邊界不完整顆粒、肖除雜點、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計算顆粒參數(shù)等功能的自動操作,一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結(jié)果的生成等全部過程,操作簡便且結(jié)果可靠;
自由切換粒徑單位 標尺選取支持多種長度單位、可在納米、微米和毫米之間自由切換,便于用戶對通過電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實現(xiàn)進一步處理;
快速處理特殊形狀顆粒 對于球形顆粒,采用讀特的處理算法,對原始圖片無需進行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息,即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會影響分析結(jié)果,提高球形顆粒的分析效率。
三、適用范圍:
BOS-T180靜態(tài)顆粒圖像儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹脂、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、榨藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。
四、技術(shù)參數(shù)
規(guī)格型號 | BOS-T180 | |
執(zhí)行標準 | ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008 | |
顯微系統(tǒng) | 物鏡 | 4X、10X、40X、60X、100X(油)長距消色差(平場)物鏡組 |
目鏡 | 1X、10X、16X 大視野攝像目鏡 | |
載物臺 | 手動三維機械式載物臺,尺寸:185mm×140mm, 移動范圍:50mm×75mm,粗微同軸調(diào)焦, 微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置 | |
光源 | 底部透射光源,6V 20W鹵素燈,亮度可調(diào)。可選頂部金相落射式光源(帶起偏振器) | |
總放大倍數(shù) | 4倍——1600倍 | |
攝像系統(tǒng) | 蕞高分辨率 | 2048×1536 |
像素尺寸 | 3.2μm×3.2μm | |
成像元件 | 1/1.8英寸 progress scan CMOS | |
幀率 | 6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480 | |
蕞高清晰度 | 900線 | |
信噪比 | 小于42dB | |
敏感度 | 1.0V@550nm/lux/S | |
輸出方式 | USB2.0 | |
實際觀測范圍 | 1-6000μm | |
軟件功能 | 靜態(tài)采集 | 將樣品形貌拍攝為高清晰JPG圖片 |
圖片處理 | 使用多種畫圖工具對圖片進行比較簡單的處理 | |
圖像拼接 | 將多幅圖片進行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測試的代表性。同時也可單張分析保存后再進行拼接,進一步提高了結(jié)果的準確性。 | |
顆粒的自動處理工具集 | 自動肖除顆粒粘連、自動肖除雜點、自動肖除邊界不完整顆粒、自動*顆粒的空心區(qū)域、自動平滑顆粒邊緣等12項自動處理工具。 | |
比例尺標定 | 通過幗家標準測微尺標定后,每次測試只須選擇與物鏡相對應的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實際大小數(shù)值。 | |
單個顆粒數(shù)據(jù) | 可在圖片上直接對單個顆粒進行截面積、體積、長徑比等10多項參數(shù)的分析。 | |
任務管理機制 | 嚴格的任務管理機制,使用戶能夠?qū)⑺袦y試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。 | |
報告輸出 | 將測試結(jié)果輸出為報告,并可以自由修改報告樣式。 | |
整體分布特征參數(shù) | D10、D50(中位徑)、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù) | |
報告參數(shù) | 整體頻率分布累計分布 | 顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。 |
統(tǒng)計平均徑 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計平均徑 | |
形狀參數(shù) | 長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項常用數(shù)據(jù) | |
個數(shù)統(tǒng)計 | 直接得到所觀測的顆粒數(shù)量 | |
樣品縮略圖 | 可以將樣品彩色或黑白(可選擇)縮略圖顯示到報告中 | |
表頭輸入 | 可以將樣品名稱、測試單位、分散介質(zhì)等多項信息輸入到報告表頭中 |
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