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顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-A1

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公司名稱 北京中瑞先創(chuàng)科技有限公司
品牌
型號
所在地 北京市
廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
更新時間 2021/12/8 15:13:37
訪問次數(shù) 287

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

產(chǎn)品簡介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測量功能*。通過把光譜測量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實現(xiàn)顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測試模塊等部分構(gòu)成。

*注：使用光纖代替共聚焦系統(tǒng)內(nèi)的小孔（Pinhole）。

詳細(xì)信息在線詢價

MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測量功能^*。通過把光譜測量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實現(xiàn)顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測試模塊等部分構(gòu)成。

*注：使用光纖代替共聚焦系統(tǒng)內(nèi)的小孔（Pinhole）。

應(yīng)用范圍

腫瘤檢測
珠寶鑒定：翡翠、寶石的真假區(qū)分
地質(zhì)研究
法學(xué)：筆跡鑒定、檢測等

定制顯微鏡

MicroTEQ-A1 系統(tǒng)可以適配不同品牌和種類的顯微鏡，客戶可根據(jù)需求自行挑選。同時，由于應(yīng)用領(lǐng)域的多樣性，客戶對系統(tǒng)性能的側(cè)重點各不相同，該系統(tǒng)對此提供定制服務(wù)，滿足客戶的不同需求。

系統(tǒng)參數(shù)

型號	MicroTEQ-A1
光譜儀配置	拉曼	拉曼	熒光
光譜儀	QEPRO@532 nm	QEPRO@785 nm	QEPRO-FL
光譜范圍	150-4200 cm^-1@532 nm	150-2000 cm^-1@785 nm	300-1050 nm
分辨率	~10 cm^-1@5 um狹縫	~6 cm^-1@5 um狹縫	1.5 nm@5 um狹縫
探測器	背照減薄型面陣CCD
激光器	單縱模激光，可選用光纖外接其他激光器
功率	50 mW
波長	532 nm
光束發(fā)散	1.3 mrad
顯微光譜測量模塊	400-1100 nm
模塊輸出能量	25 mW
手動衰減切換	50%, 10%, 1%, 0.1%
光斑尺寸	10x NA0.25 物鏡下 <=10 um