熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-475 Kapton膜
適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：
日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、AR

一、美國Premier XRF樣品膜：

美國Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領(lǐng)域，以高質(zhì)量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽。

美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn)，好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性，保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。

X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。

二、Premier 樣品膜特點：

  有卷狀和片狀，多種規(guī)格、尺寸、數(shù)量可供選擇；

  柔韌性強、方便、耐用；

  X-ray射線穿透性，適合各類XRF光譜儀；

 抗化學(xué)腐蝕性能，不溶于有機溶劑，不污染待測樣品；

  （幾乎不含）痕量雜質(zhì)，特別適合于輕質(zhì)元素的*檢測。

三、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、。

CAT. NO 薄膜材料       厚度       長度       數(shù)量       描述

熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-475 Kapton膜

熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-475 Kapton膜