NIST RM 8174 鎵熔點(diǎn)基準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品主要用作參考點(diǎn)，使實(shí)驗(yàn)室能夠?qū)⑺麄兡壳皩?shí)現(xiàn)的鎵熔點(diǎn)溫標(biāo)與 NIST 歷史實(shí)現(xiàn)的 1968 年國際實(shí)用溫標(biāo) (IPTS-68) 進(jìn)行比較) [1] 大約 1977 年 6 月和 1990 年國際溫標(biāo) (ITS-90) [2] 大約 1991 年 3 月 11 日，其中這些日期對(duì)應(yīng)于證書最初與 SRM 1968 一起提供，并在從 IPTS-68 過渡到 ITS-90 時(shí)進(jìn)行了更新。
SRM 1968 不再符合作為認(rèn)證參考材料的國際質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn) (ISO 17034) [4,5]。因此，SRM 1968 的剩余庫存以 RM 8174 的形式提供。一個(gè) RM 8174 單元由大約 25 克的高純度鎵組成，裝在一個(gè)專門設(shè)計(jì)的環(huán)氧樹脂密封電池中。
用途：
NIST RM 8174 鎵熔點(diǎn)基準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品用于研究用途。 該材料的用戶應(yīng)熟悉金屬凝固點(diǎn)溫度標(biāo)準(zhǔn)特別是鎵凝固點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)的操作和處理的最佳實(shí)踐 [8-10]。
儲(chǔ)存：
鎵電池應(yīng)小心儲(chǔ)存和處理，特別是考慮到尼龍組件（孔和閥桿蓋）的使用年限。 鎵在體溫下是液體。 因此建議戴手套處理以防電池泄漏，因?yàn)殒壓茈y從皮膚上清除并可能損壞珠寶。
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