現(xiàn)貨租售銷售回收Microsemi 53100A 相位噪聲和艾倫偏差測試儀

Microchip 53100A相位噪聲分析儀概述53100A相位噪聲分析儀可以測量**RF信號源的幅度、相位和頻率穩(wěn)定性。測試頻率范圍為1MHz到200MHz。53100A可以告訴您關(guān)于您被測設(shè)備的任何穩(wěn)定性特性，時間刻度范圍可以從飛秒到天。無論是單獨使用還是集成到自動化測試系統(tǒng)中，小巧的外形和業(yè)界良好的測量速度使得51300A可以適用于大多數(shù)應用。繼承并擴展了3120A和51XXA系列儀器的優(yōu)點，53100A可以以*低的成本來****地測量SSB單邊帶相位噪聲和ADEV阿倫反差。得益于改進地設(shè)計和制造工藝進步，53100A在可靠性和性能上有了巨大地提升。特點信號輸入和參考輸入，頻率范圍1MHz到200MHz沒有相位鎖定和不需要測量校準單或雙參考振蕩器輸入允許互相關(guān)測量TSC 51XXA命令和數(shù)據(jù)流仿真功能減少了重寫現(xiàn)有測試腳本的負擔直觀的圖形界面使用戶能夠**開始測量測量亞皮秒精度相位和頻率差的實時帶狀圖**頻率計數(shù)精度每秒鐘13位以上，可到17位ADEV典型值<5E-14（1秒）可以測量MDEV、HDEV、TDEV相位噪聲和幅度噪聲偏移范圍為0.001Hz到1MHz，水平典型小于-175dBc/Hz（10MHz載波）時間抖動、殘余FM調(diào)頻和SSB載波/噪聲比率 在Windows系統(tǒng)上使用**的基于電腦的DSP技術(shù)，所有這些測量都可以同時進行。您可以查看、保存、比較、打印和導出各種格式數(shù)據(jù)，包括TSC 51XXA兼容的。測量精度取決于用戶提供的外部參考源，參考源頻率為1MHz到200MHz，儀器本身不需要校準。 規(guī)格（25℃環(huán)境），除非備注其他溫度性能頻率范圍1到200MHzADEV<7E-14 (1秒)<5E-16(1000秒)相位噪聲規(guī)格偏移頻率范圍：0.001Hz到1MHz