（1）應(yīng)用領(lǐng)域
●計(jì)量領(lǐng)域（平面平晶檢測(cè)）
●半導(dǎo)體工業(yè)（晶片檢測(cè)）
●大平板顯示（平面檢測(cè)）
●手機(jī)工業(yè)（背板檢測(cè)）
●光學(xué)加工（窗口玻璃檢測(cè)）
●高精度精密機(jī)械（平面元件檢測(cè)）
●LED工業(yè)（藍(lán)寶石襯底檢測(cè)）
●數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和科研院校教學(xué)儀器等多種領(lǐng)域。
●平面平晶、窗口玻璃、光學(xué)平面、金屬平面、陶瓷平面等
●光滑表面面形的高精度快速測(cè)量，90°直角棱鏡和角錐測(cè)量。
（2）產(chǎn)品綜述
無(wú)應(yīng)力平面檢測(cè)干涉儀是高性能模塊化組合檢測(cè)干涉儀中的一種，它采用組合式激光干涉儀作為核心部件，主要用于高效檢測(cè)高精度平面。
該產(chǎn)品包括光源、主機(jī)、成像以及鏡頭和相移等四大模塊，主要技術(shù)指標(biāo)已達(dá)到國(guó)際水平, 采用更加簡(jiǎn)便操作的俯式測(cè)量，擁有*的測(cè)量精度和測(cè)量重復(fù)性，突破了一等平面平晶限制，且其采樣點(diǎn)可達(dá)上百萬(wàn)像素，能客觀反映被測(cè)平面全貌。不僅測(cè)量精度高，而且具有*的測(cè)量效率。
此款干涉儀可廣泛應(yīng)用高精度光學(xué)元件制造、計(jì)量檢測(cè)、生物醫(yī)學(xué)、航空航天、國(guó)防、微電子、能源等眾多領(lǐng)域，具有廣闊的市場(chǎng)前景。
（3）平面平晶檢測(cè)干涉儀參數(shù)性能
測(cè)量原理： | 斐索干涉原理 |
光源波長(zhǎng)： | 632.8nm |
樣品準(zhǔn)直： | 使用兩個(gè)光點(diǎn) |
電源: | 220V 50HZ /11 0V 60HZ |
操作系統(tǒng)： | Windows7/10, 32/64bit |
CCD分辨率： | 1280*960像素 |
軟件： | H&L-p數(shù)字化相移分析軟件 |
精密度： | 入/600 PV |
重復(fù)性： | 入/500 PV |
重復(fù)性： | 入/1000 RMS |
透射平面鏡精度： | A/20 PV |
◆材質(zhì)均勻性
◆超精密平面/球面面形測(cè)量
◆光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)和校準(zhǔn)
◆光學(xué)組件透射波前測(cè)量
◆光學(xué)均勻性測(cè)量
◆平行度測(cè)量
◆角錐角度測(cè)量
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