E8-SPR：鍍層、膜厚檢測(cè)儀
專業(yè)的鍍層測(cè)試儀器HeLeeX E8-SPR是一款高性能能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF），與普通EDXRF相比，分辨率高，其核心光路系統(tǒng)集合國(guó)內(nèi)外幾十年EDXRF*技術(shù)，核心部件采用美國(guó)進(jìn)口，軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告； E8-SPR采用小光斑設(shè)計(jì)，多種工作模型供選擇，測(cè)試數(shù)據(jù)更精確，更穩(wěn)定。
外形特點(diǎn)：
● 儀器結(jié)構(gòu)采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，儀器兩側(cè)按成人手臂長(zhǎng)度設(shè)計(jì)，方便移動(dòng)、搬運(yùn)。
● 上蓋傾斜6度角，寓意對(duì)客戶的尊重。
● 表面采用高檔汽車噴漆工藝，采用寶藍(lán)、雅致白搭配，藍(lán)色代表科技，白色代表圣潔，寓意對(duì)科學(xué)的敬仰。
● 可視化樣品窗。
● 輻射防護(hù)：
● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線。
● 輻射標(biāo)志警示。
●迷宮式結(jié)構(gòu)，防止射線泄漏。
● 安全連鎖設(shè)計(jì)；測(cè)試過(guò)程中誤打開樣品蓋時(shí)，電路0.1μS快速切斷X 儀器經(jīng)第三方檢測(cè)，X射線劑量率*符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》。
硬件技術(shù)：
● 超短光路設(shè)計(jì)：提高無(wú)鹵檢測(cè)分辨率，提高樣品分析效率，降低光管功率，延長(zhǎng)儀器使用壽命。
● 模塊化準(zhǔn)直器，根據(jù)分析元素，配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器，從而降低準(zhǔn)直器對(duì)分析元素的影響，提高元素分辨率。
● 空氣動(dòng)力學(xué)設(shè)計(jì)，加速光管冷卻，有效降低儀器內(nèi)部溫度；*設(shè)計(jì)。
● 電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
● 技術(shù)快拆樣品盤，更換薄膜更 軟件技術(shù)：
● 分析元素：Na~U之間元素。
● 分析時(shí)間：60秒。
● 配置RoHS檢測(cè)分析模型，無(wú)鹵分析 軟件界面簡(jiǎn)潔，模塊化設(shè)計(jì)，功能清晰，易可配置鍍層分析模型、玩具指令等模型。
● HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數(shù)據(jù)一鍵備份，一鍵還原功能，保護(hù)用戶數(shù)據(jù)安全。
● HeLeeX ED Workstation V3.0根據(jù)不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測(cè)試精準(zhǔn)度。
● HeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分析模型功能，客戶建立自己的工作模型。
