SID4-UV-HR紫外/【SID4-UV-HR簡介】隨著光波探測技術(shù)的發(fā)展，各種波前傳感器應(yīng)運而生

SID4-UV-HR 紫外/

【SID4-UV-HR簡介】

隨著光波探測技術(shù)的發(fā)展，各種波前傳感器應(yīng)運而生。從測量原理上可以分成兩類：一類是根據(jù)幾何光學原理，測定波前幾何像差或面型誤差，主要有Shack－Hartmann 波前傳感器，曲率傳感器和Pyramid 波前傳感器等；另一類是基于干涉測量原理，探測波前不同部分的干涉性，來獲取波前信息，主要有剪切波前傳感器和相位獲取傳感器等。剪切干涉儀波前傳感器不需要精確的參考標準鏡;它們結(jié)構(gòu)簡單，抗力強，條紋穩(wěn)定。它是測量光學元件和光束波前質(zhì)量的一種很好的替代傳統(tǒng)干涉儀的方法。作為低可至波長250 nm的高分辨率波前傳感器，SID4-UV-HR非常適合于紫外光學測量，包括用于光刻或半導體應(yīng)用紫外激光表征，以及透鏡和晶圓的表面面型檢測。

【關(guān)于】

Phasics是一家專注于高分辨率波前傳感技術(shù)的法國公司。Phasics公司憑借其在測量方面的專業(yè)經(jīng)驗與的波前測量技術(shù)為客戶提供全面的高性能波前傳感器。

 一、 SID4-UV-HR 波前傳感器主要特點

• 低至190nm波長感光靈敏

• 1  nm RMS高相位靈敏度

• 355 x 280超高相位取樣分辨率

二、SID4-UV-HR 波前傳感器產(chǎn)品功能

• 波前像差測量

基于四波剪切技術(shù)，Phasics 的波前傳感器同時提供具有的高分辨率的相位和強度測量。 波前傳感器與其光束分析軟件相結(jié)合，可提供完整的激光診斷：波前像差、強度分布、激光參數(shù)（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析儀可以放置在光學裝置的任何一點，無論光束是準直的還是發(fā)散的。作為低可至波長250 nm的高分辨率波前傳感器，SID4-UV非常適合于紫外光學測量，包括用于光刻或半導體應(yīng)用紫外激光表征，以及透鏡和晶圓的表面面型檢測。

三、SID4-UV-HR 波前傳感器應(yīng)用領(lǐng)域

紫外光學測量| 光刻或半導體應(yīng)用紫外激光表征| 透鏡和晶圓的表面面型檢測|

四、SID4-UV-HR 波前傳感器主要規(guī)格

五、更多參數(shù)選型