Xper-IP激光干涉膜厚測量儀
Xper-IP是基于公司*的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。Xper-IP可用于測量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的厚度。
薄膜測厚儀，激光，膜厚測量儀，激光干涉薄膜測量系統(tǒng)
韓國Nanobase公司是一家專注于激光和光譜測量領(lǐng)域的高科技公司，旗下有多種產(chǎn)品，包括成像系統(tǒng)，光學(xué)相干斷層掃描系統(tǒng)，和激光干涉薄厚測量儀。
Xper-IP正是基于Nanobase*的光譜干涉技術(shù)的一款膜厚測量儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。Xper-IP可用于測量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的厚度，產(chǎn)品具有以下特點(diǎn)：
精度 ±0.2 %
重復(fù)準(zhǔn)度 ±0.003 %
超寬測量范圍 0.03 mm to 1.2 mm
人性化軟件，易于使用
性價比高
同時測量多層膜厚
結(jié)構(gòu)堅固，適用于實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)環(huán)境
參數(shù)
型號 | Xper-ITP（激光干涉測厚） | Xper-（激光干涉測表面形貌） |
測量范圍 | 100-1000微米，200-2000微米，(或者定制波長范圍，與分辨率成反比) |
準(zhǔn)確度 | ±0.2 % |
重復(fù)性 | 單點(diǎn)：0.01% full range（<>） 平均：0.003% full range（<>） |
速度 | 激光：標(biāo)準(zhǔn)30pps，（Max：100，000pps） |
光源 | 激光：SLD(840nm) |
應(yīng)用領(lǐng)域
半導(dǎo)體，太陽能，SiC Coat, Si Coat, Polished Si, Optical disk
平板顯示，Cell gap, Glass thickness, DLC, Highfunction film
光學(xué)薄膜，科研聚合物材料等，AR film, PET, Coating layer, Coating film, Evaporation film, Functionality film, Acrylic resin, Video head, etc.
測量原理
原理圖
示例
