掃描電鏡原位拉伸臺是一種動態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機制的手段,在材料科學前沿研究中發(fā)揮了重要作用。

      GATAN公司MICROTEST系列樣品臺可以為很多材料做拉伸測試，如金屬材料（研究韌斷過程、應(yīng)力誘發(fā)相變及塑性變形等），高分子材料等。通過掃描電鏡對微觀結(jié)構(gòu)的形態(tài)變化進行原位成像，從而深入理解形態(tài)變化的原因并對變化時刻進行成像。結(jié)合對動態(tài)實驗的信息可以克服對傳統(tǒng)的應(yīng)力/應(yīng)變數(shù)據(jù)解釋的不確定因素。針對拉伸、擠壓和彎曲測試，我們提供很多款裝置，負載范圍從2N到5000N。

      MICROTEST原位拉伸臺針對SEM而特殊設(shè)計，有四個版本可以使用，200N、300N、2KN、5KN

      MICROTEST系列拉伸臺技術(shù)特點：

      較大載荷范圍：200N, 300N, 2000N 和5000N

      可更換的稱量傳感器量程小到 2N

      應(yīng)變速率：5 μm/min 到 6 mm/min

     可選3- 點和 4-點水平彎曲附件

     EBSD 樣品專用附件

     加熱和水冷臺上配備的定制鉗口

     簡單的軟件用戶界面提供了實時定量數(shù)據(jù)曲線，結(jié)合靈活的閥值可以進行復雜的實驗，包括循環(huán)負載。

     支持同步圖像和數(shù)據(jù)采集?？梢酝ㄟ^影響對樣品變化過程進行細節(jié)分析。

1、MICROTEST 200系列拉伸臺

        動態(tài)測試臺，在SEM內(nèi)外都能操作。大200 N負載，可以進行拉伸、擠壓操作，可配水平方向上3或4點彎曲。MICROTEST 200B可以實現(xiàn)垂直三點彎曲。

2、MICROTEST 300系列拉伸臺

        動態(tài)測試臺，在SEM內(nèi)外都能操作。大300 N負載，可以進行拉伸、擠壓操作，可配水平方向上3或4點彎曲。MICROTEST 300B可以實現(xiàn)垂直三點彎曲。

3、MTEST2000系列拉伸臺

        MTEST2000和MTEST2000E動態(tài)測試樣品臺模塊，大載荷為2000N,在掃描電鏡 (SEM)里面和外面都可以使用。MTEST2000可以工作在拉伸或壓縮模式，并可選配水平彎曲夾具。MTEST2000B設(shè)計用于垂直的3-/4-點彎曲。MTEST2000E拉伸臺設(shè)計用于配置EBSD的掃描電鏡研究（MICROTEST 2000ES室溫版本，MICROTEST 2000EW水冷版本，是加熱夾具的基本配置，同時可以選配EH 2000升級為可實現(xiàn)加熱狀態(tài)下拉伸測試）。

4、MTEST5000 系列拉伸臺

       MTEST5000是一個可工作于拉伸或壓縮模式的高載荷(5000N)動態(tài)測試樣品臺模塊，可以進行拉伸、擠壓操作，可配水平方向上3或4點彎曲。（MICROTEST 5000S為室溫版本，MICROTEST 5000W為水冷版本，是加熱夾具的基本配置，同時可以選配H5000升級為同時進行加熱或冷卻狀態(tài)下的拉伸測試）