安捷倫美國(guó) LCR測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：HP4284A
頻率范圍：20HZ—1MHZ
阻抗范圍：0.01mΩ-100MΩ
基本測(cè)量精度：0.05%
安捷倫美國(guó) LCR測(cè)試儀
主要用途
測(cè)試材料的電導(dǎo)率ρ、介電常數(shù)ε、電阻R、電抗X、阻抗Z、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q。
可以完成材料的介電溫譜測(cè)試，測(cè)試溫度范圍：室溫 -1000℃
電橋 HP4284A0.05%的基本精度，6位數(shù)字分辨率
恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平
20Vrms電平選件（選件001）
用Alilent 42841A進(jìn)給出40Adc
具有列表掃描測(cè)量功能
Agilent 4284A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它通過(guò)提供精Q、高吞吐量的測(cè)試方法來(lái)改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào)，使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合Z通行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn)，且工作在模擬所使用的工作條件下。無(wú)論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn)，4284A都能滿足全部LCR測(cè)量要求。
電橋 HP4284A技術(shù)指標(biāo)
被測(cè)參數(shù) |Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp,L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差
測(cè)量電路模式 串聯(lián)和并聯(lián)
量程轉(zhuǎn)換 自動(dòng)和手動(dòng)
觸發(fā) 內(nèi)部、外部和總線（HP-IB）
延遲時(shí)間 0-60.00s以1ms步進(jìn)
測(cè)量終端 四端對(duì)
測(cè)試電纜長(zhǎng)度 標(biāo)準(zhǔn)：0和1m；帶選件006時(shí)：0、1、2和4m
積分時(shí)間： 短、中等和長(zhǎng)
取平均： 1-256可程控
測(cè)試信號(hào)： 20Hz-1MHz±0.01%8610個(gè)可選擇頻率
測(cè)試信號(hào)方式：
標(biāo)準(zhǔn)： 分別在開路或短路的測(cè)量端，而不是在被測(cè)件上對(duì)選一的電壓或電流編程
恒定： 維持被測(cè)件上選定的電壓或電流，而與器件阻抗和變化無(wú)關(guān)
測(cè)試信號(hào)： 電平 標(biāo)準(zhǔn) 恒定
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