Fischer X熒光射線測厚儀，菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210設(shè)計理念

Fischer X熒光射線測厚儀

Fischerscope X-RAY XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

Fischerscope X-RAY XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

Fischer測厚儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

? 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

? 測量薄鍍層，例如裝飾鉻

? 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

? 全自動測量，如測量印刷線路板

? 分析電鍍?nèi)芤?/p>

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210設(shè)計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據(jù)樣

品平臺的運行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來設(shè)定不同型號的儀器以滿足實際

應(yīng)用的需求。

Fischerscope X-RAY XDL210：平面樣品平臺，固定的Z 軸系統(tǒng)

高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以精-確定位測量位置。通過視頻

窗口，還可以實時觀察測量過程和進(jìn)度。配有馬達(dá)驅(qū)動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了

激光點，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。

測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設(shè)計，可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。

例如大型的線路板。