背散射電子圖像分辨率：3.0nm@30keV（低真空模式）二次電子圖象分辨率：3.0nm@30keV加速電壓：0.2~30kV放大倍數(shù)：2~1,000,000x儀器種類：鎢燈絲TESCAN集成式礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)

背散射電子圖像分辨率：3.0 nm @ 30keV（低真空模式）
二次電子圖象分辨率：3.0 nm @ 30keV
加速電壓：0.2~30 kV
放大倍數(shù)：2~1,000,000 x
儀器種類：鎢燈絲

TESCAN集成式礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)。TIMA可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進(jìn)行自動礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
TIMA的應(yīng)用范圍很寬，包括礦石性質(zhì)、工藝優(yōu)化、修復(fù)、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的技術(shù)是基于一個集成的EDX系統(tǒng)執(zhí)行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的一體化技術(shù)提供了的數(shù)據(jù)采集速度，進(jìn)而得到快速、準(zhǔn)確和可靠的結(jié)果。

TIMA硬件
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場發(fā)射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設(shè)計（電子槍的恒真空與隔絕閥）提高了發(fā)射的穩(wěn)定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統(tǒng)提供高真空模式為標(biāo)準(zhǔn)，低真空模式為選配。
大樣品室、由計算機(jī)控制的超快樣品臺、礦物樣品支持器的特殊設(shè)計。樣品臺可以同時容納7塊直徑為30mm的樣品。樣品臺內(nèi)可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺有EDX/BSE校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)、鉑Faraday筒（BSE信號校準(zhǔn)）與錳、 銅、 石英、碳和金元素（系統(tǒng)性能檢查）。標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)的元素可以根據(jù)客戶要求定制。

軟件標(biāo)配：
分析&測量
柱狀圖
圖像處理
3維掃描
硬度測量
多圖像校準(zhǔn)
對象區(qū)域
定時關(guān)機(jī)
公差測量
定位
Live Video
EasySEMTM

軟件選配：
根據(jù)實際配置和要求
配件：
二次電子探頭
背散射電子探頭
探針電流測量
壓差式防碰撞報警裝置
可觀察樣品室內(nèi)部的紅外線攝像頭等，各種配件可供選擇