背散射電子圖像分辨率：2.0nm@15keV二次電子圖象分辨率：1.2nm@30keV加速電壓：0.2~30kV放大倍數(shù)：1~1,000,000x儀器簡介：TIMA3LMU/LMHFEG是一款基于場發(fā)射掃描電子顯微鏡設計的集成式礦物分析專家，適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應用

背散射電子圖像分辨率：2.0nm @ 15keV
二次電子圖象分辨率：1.2nm @ 30keV
加速電壓：0.2~30 kV
放大倍數(shù)：1~1,000,000 x

儀器簡介：
TIMA3 LMU/LMH FEG是一款基于場發(fā)射掃描電子顯微鏡設計的集成式礦物分析專家，適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應用。TESCAN的技術是基于一個集成的EDX系統(tǒng)，能以非?？斓乃俣葓?zhí)行全譜掃描，可用于礦石特性檢測、工藝優(yōu)化、修復技術和貴金屬與稀土的尋找。SEM和EDX硬件的集成水平實現(xiàn)了以的采集速度自動化的數(shù)據(jù)采集，并得到快速、準確和可靠的結果。

最重要的特性：
通過高水平的SEM和EDX硬件集成實現(xiàn)了快速、自動化的數(shù)據(jù)采集；
基于MIRA SEM平臺；
新設計的樣品臺集成了BSE/EDX校正標準和法拉第杯；
根據(jù)客戶的需求更改樣品的尺寸；
最多集成4個EDX探測器確保系統(tǒng)的性能；
新的Peltier冷卻型EDX探測器確保熱穩(wěn)定性；
改進的方法使數(shù)據(jù)分析既快又可靠；
根據(jù)樣品的每個部分可調整掃描和EDX分析的時間；
離線數(shù)據(jù)處理；
各種各樣的數(shù)據(jù)分析模塊；
可自定義的分類規(guī)則；
可定制的解決方案。

TESCAN集成式礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)。TIMA可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進行自動礦產豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
TIMA的應用范圍很寬，包括礦石性質、工藝優(yōu)化、修復、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的技術是基于一個集成的EDX系統(tǒng)執(zhí)行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的一體化技術提供了的數(shù)據(jù)采集速度，進而得到快速、準確和可靠的結果。
TIMA硬件
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場發(fā)射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設計（電子槍的恒真空與隔絕閥）提高了發(fā)射的穩(wěn)定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統(tǒng)提供高真空模式為標準，低真空模式為選配。
大樣品室、由計算機控制的超快樣品臺、礦物樣品支持器的特殊設計。樣品臺可以同時容納7塊直徑為30mm的樣品。樣品臺內可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺有EDX/BSE校準標準、鉑Faraday筒（BSE信號校準）與錳、 銅、 石英、碳和金元素（系統(tǒng)性能檢查）。標準校準的元素可以根據(jù)客戶要求定制。

配件：
二次電子探頭
背散射電子探頭
探針電流測量
壓差式防碰撞報警裝置
可觀察樣品室內部的紅外線攝像頭等，各種配件可供選擇