Planum-3000平面光學元件光譜分析儀
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- 公司名稱 廣州標旗光電科技發(fā)展股份有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 廣州市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/1/17 16:50:29
- 訪問次數(shù) 114
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Planum-3000平面光學元件光譜分析儀全自動透光率/反射率分析儀型號:Planum-3000用途:用于各類平面光學元件的反射、透射光譜快速測量
Planum-3000平面光學元件光譜分析儀
全自動透光率/反射率分析儀
型號:Planum-3000
用途:用于各類平面光學元件的反射、透射光譜快速測量??蛇M行多角度相對/
反射率、透過率測量,偏振光測量,膜性測量。
Planum-3000平面光學元件光譜分析儀-適宜測量范圍:棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學性能。
操作軟件界面
平面光學元件光譜分析儀的技術參數(shù):
型號 Planum-3000(Ⅰ型) Planum-3000(Ⅲ型) 探測器 Sony線形CCD 陣列 Hamamatsu背照式2D-CCD 檢測范圍 380-1000nm 360-1100nm 波長分辨率 1nm 1nm 信噪比(全信號) 250:1 1000:1 相對檢測誤差 ﹤1%(400-800nm) ﹤0.2%(400-800nm) 重復定位精度 ﹤0.005° 透射測量角度 0-80°(小樣品0-50°) 反射測量角度 10-80°(可擴展到5°) 樣品尺寸 ﹥Φ5mm 單次測量時間 <1ms S/P光測量 支持 其他 可自定義打印報告格式,開放式光學材料數(shù)據(jù)庫
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