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美國Sinton 少子壽命測試儀 BCT-400/BLS-I

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公司名稱 深圳市科時達電子科技有限公司
品牌
型號
所在地 深圳市
廠商性質(zhì) 其他
更新時間 2024/1/23 13:46:26
訪問次數(shù) 69

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

產(chǎn)品簡介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

BLS-I/BCT-400少子壽命測試儀●非接觸方式量測真正意義上的硅塊少子壽命●渦電流法量測技術(shù)符合SEMI的PV13標準●相比業(yè)界其他少子壽命測試儀BLS-I/BCT系列是性能更*的少子壽命測試儀●Wafer廠品質(zhì)監(jiān)控必*量測設(shè)備，擁有廣泛的客戶群。

詳細信息在線詢價

BLS-I/BCT-400少子壽命測試儀

●非接觸方式量測真正意義上的硅塊少子壽命

●渦電流法量測技術(shù)符合SEMI的PV13標準

●相比業(yè)界其他少子壽命測試儀BLS-I/BCT系列是性能更*的少子壽命測試儀

●Wafer廠品質(zhì)監(jiān)控必*量測設(shè)備，擁有廣泛的客戶群。

美國Sinton 少子壽命測試儀 BCT-400/BLS-I(圖1)

一、 產(chǎn)品概述

BLS-I/BCT-400型號少子壽命測試儀可以量測P型或者N型單晶或者多晶硅塊少子壽命，不需要表面鈍化處理就可以量測少子壽命。少子壽命的量測對于監(jiān)控硅塊在長晶過程引入的缺陷或者污染物造成的缺陷有著重要的意義。通過使用少子壽命測試儀BCT-400可以直接判斷硅塊的質(zhì)量好壞。BLS-I可以量測表面不平的硅塊樣品。而不同于BLS-I，BCT-400只能量測表面平坦的硅塊。

二、 產(chǎn)品性能

主要應用：

? 量測高純度硅少子壽命（范圍在1ms-5ms）

? 量測摻硼的CZ 單晶硅少子壽命

? 量測多晶硅的少子壽命，陷阱濃度等

其他應用：

? 量測B-O缺陷，鐵雜質(zhì)濃度，以及表面的損傷

? 監(jiān)控CZ和FZ單晶，多晶硅等硅片質(zhì)量