The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 的電容傳感技術(shù)，繼承了市場的批商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動(dòng)態(tài)測試和力學(xué)性能成像等功能。

 The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 的電容傳感技術(shù)，繼承了市場的批商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動(dòng)態(tài)測試和力學(xué)性能成像等功能。

控制和性能

Hysitron PI 89的緊湊設(shè)計(jì)允許的樣品臺傾斜，以及測試時(shí)成像的最小工作距離。PI 89為研究者提供了比競爭產(chǎn)品更廣闊的適用性和性能：

• 重新設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)增加適用性和易用性 
• 1 nm精度的線性編碼器實(shí)現(xiàn)更大范圍下更好的自動(dòng)測試定位重復(fù)性
• 更高的框架剛度(~0.9 x 106 N/m)提供測試過程更好的穩(wěn)定性
• 兩種旋轉(zhuǎn)/傾斜模式實(shí)現(xiàn)城鄉(xiāng)、FIB加工、以及各種探測器的聯(lián)用，包括EDS, CBD, EBSD, and TKD等。