TriStarIIPlus-高測試通量/多用途分析/體積小TriStarII3020為全自動三站式比表面積和孔隙度分析儀，性價比高

TriStar II Plus - 高測試通量/多用途分析/體積小

TriStar II 3020為全自動三站式比表面積和孔隙度分析儀，性價比高。它在保證數(shù)據(jù)精度和強大的數(shù)據(jù)處理能力同時，大大加快了分析速度，可滿足大多數(shù)研究需求。TriStar II也同時提供氪氣選配，可進行低比表面測量。該儀器還提供多種分析方法和數(shù)據(jù)處理，用戶可根據(jù)需要選擇不同的計算數(shù)據(jù)。

的軟件和硬件特點

• 增強的產(chǎn)品功能包括：視頻剪輯、計算機和TriStar之間的以太網(wǎng)通信、內(nèi)置電路測試和診斷的軟件、能
  夠通過互聯(lián)網(wǎng)進行遠程診斷、可兼容舊型號TriStar及Gemini的數(shù)據(jù)。
• 2.75升，（可選配4L）大容量杜瓦瓶和超長樣品管，保證長時間分析測量。
• 可測量多達1000個數(shù)據(jù)點的等溫線，可分析得到足夠多的材料結(jié)構(gòu)信息。
• 基于Windows的控制軟件，具有強大的數(shù)據(jù)處理功能、SPC報告、等溫吸附熱等。
• 可選不同的樣品制備站，流動/真空加熱等多種方式選擇。
• 設(shè)計精美，體積小，使用方便

低比表面積氪氣選配

• 氪氣選配可測量低至0.001m²/g的比表面積。