MATRIX-MF FT-IR 過程反應(yīng)監(jiān)測(cè)
MATRIX - MF
MATRIX-MF是一款堅(jiān)固緊湊的光譜儀，通過連接光纖可在實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)過程環(huán)境中對(duì)化學(xué)反應(yīng)進(jìn)行監(jiān)測(cè)
MATRIX-MF傅立葉變換紅外光譜儀由久經(jīng)考驗(yàn)的MATRIX系列產(chǎn)品衍生而來。中紅外區(qū)光譜信息豐富，因此MATRIX-MF可被廣泛用于實(shí)驗(yàn)室和過程分析。MATRIX-MF專為過程分析而開發(fā)，是化學(xué)和生物反應(yīng)過程實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和分析的理想工具。
穩(wěn)健的設(shè)計(jì)
得益于MATRIX系列屢獲殊榮的設(shè)計(jì)，MATRIX的光學(xué)元件能夠得到的很好密封保護(hù)。即使工作在的環(huán)境下，準(zhǔn)直的 RockSolid™干涉儀和Digitect™ 檢測(cè)器電子元件也能確保優(yōu)質(zhì)光譜的獲取。盡管該儀器專為過程控制而設(shè)計(jì)，但由于其較小的體積，它同樣是實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用的理想之選。
MATRIX-MF具備布魯克的快速接頭設(shè)計(jì)（BQC），使得光纖探頭的連接與更換非常簡(jiǎn)單并具有很好的重復(fù)性，從而提供穩(wěn)定的結(jié)果?？梢酝ㄟ^多路轉(zhuǎn)換器的擴(kuò)展，一臺(tái)儀器可監(jiān)測(cè)多達(dá)6個(gè)反應(yīng)器。
光纖探頭
衰減全反射（ATR）采樣技術(shù)和光導(dǎo)光纖的組合，增強(qiáng)了紅外光譜的應(yīng)用。光纖探頭的原位測(cè)量技術(shù)，充分發(fā)揮出了具有豐富信息的中紅外光譜測(cè)量的優(yōu)勢(shì)。布魯克為您提供了大量可供選擇的探頭，包括專有的IN350-T金剛石ATR探頭，可以幫助您通過連接裝置進(jìn)行原位分析。
紅外光纖探頭由雙反射ATR探頭端部和優(yōu)良性能的中紅外鹵化銀光纖構(gòu)成。
IN350-T：金剛石ATR光纖探頭
(? 6 mm)，ATEX區(qū)域亦可使用
IN351：微金剛石ATR光纖探頭
(? 3.17 mm)
IN355：金剛石ATR光纖探頭
(? 6.3 mm)
IN356-EX：金剛石ATR光纖探頭
(? 12 mm)，ATEX區(qū)域亦可使用
其它 ATR 晶體（如硅）亦可使用
輕松實(shí)現(xiàn)過程集成
MATRIX-MF可作為實(shí)驗(yàn)室的獨(dú)立系統(tǒng)使用。較小的占地面積使得能夠安裝在19英寸的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)柜中。您可以通過各種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)通信協(xié)議接口（如4-20 mA、OPC、Modbus、Profibus DP等）與之進(jìn)行通訊連接，從而輕松實(shí)現(xiàn)過程系統(tǒng)的集成。
維護(hù)和驗(yàn)證
OPUS 驗(yàn)證程序（OVP）能夠利用內(nèi)置的自動(dòng)化濾光輪執(zhí)行一系列性能測(cè)試。這些性能測(cè)試可以監(jiān)測(cè)儀器硬件的性能，判斷儀器運(yùn)行狀態(tài)是否理想。MATRIX系列專為運(yùn)行的可靠性和維護(hù)的方便性而設(shè)計(jì)，各個(gè)耗件均安裝在預(yù)先對(duì)準(zhǔn)的底座上，用戶無需對(duì)準(zhǔn)光學(xué)元件，即可進(jìn)行快速更換。
MATRIX-MF 防爆
MATRIX-MF還擁有符合以下標(biāo)準(zhǔn)的ATEX防爆版本：
穩(wěn)健的設(shè)計(jì)
得益于MATRIX系列屢獲殊榮的設(shè)計(jì)，MATRIX的光學(xué)元件能夠得到的很好密封保護(hù)。即使工作在的環(huán)境下，準(zhǔn)直的 RockSolid™干涉儀和Digitect™ 檢測(cè)器電子元件也能確保優(yōu)質(zhì)光譜的獲取。盡管該儀器專為過程控制而設(shè)計(jì)，但由于其較小的體積，它同樣是實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用的理想之選。
MATRIX-MF具備布魯克的快速接頭設(shè)計(jì)（BQC），使得光纖探頭的連接與更換非常簡(jiǎn)單并具有很好的重復(fù)性，從而提供穩(wěn)定的結(jié)果?？梢酝ㄟ^多路轉(zhuǎn)換器的擴(kuò)展，一臺(tái)儀器可監(jiān)測(cè)多達(dá)6個(gè)反應(yīng)器。
光纖探頭
衰減全反射（ATR）采樣技術(shù)和光導(dǎo)光纖的組合，增強(qiáng)了紅外光譜的應(yīng)用。光纖探頭的原位測(cè)量技術(shù)，充分發(fā)揮出了具有豐富信息的中紅外光譜測(cè)量的優(yōu)勢(shì)。布魯克為您提供了大量可供選擇的探頭，包括專有的IN350-T金剛石ATR探頭，可以幫助您通過連接裝置進(jìn)行原位分析。
紅外光纖探頭由雙反射ATR探頭端部和優(yōu)良性能的中紅外鹵化銀光纖構(gòu)成。
IN350-T：金剛石ATR光纖探頭
(? 6 mm)，ATEX區(qū)域亦可使用
IN351：微金剛石ATR光纖探頭
(? 3.17 mm)
IN355：金剛石ATR光纖探頭
(? 6.3 mm)
IN356-EX：金剛石ATR光纖探頭
(? 12 mm)，ATEX區(qū)域亦可使用
其它 ATR 晶體（如硅）亦可使用
輕松實(shí)現(xiàn)過程集成
MATRIX-MF可作為實(shí)驗(yàn)室的獨(dú)立系統(tǒng)使用。較小的占地面積使得能夠安裝在19英寸的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)柜中。您可以通過各種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)通信協(xié)議接口（如4-20 mA、OPC、Modbus、Profibus DP等）與之進(jìn)行通訊連接，從而輕松實(shí)現(xiàn)過程系統(tǒng)的集成。
維護(hù)和驗(yàn)證
OPUS 驗(yàn)證程序（OVP）能夠利用內(nèi)置的自動(dòng)化濾光輪執(zhí)行一系列性能測(cè)試。這些性能測(cè)試可以監(jiān)測(cè)儀器硬件的性能，判斷儀器運(yùn)行狀態(tài)是否理想。MATRIX系列專為運(yùn)行的可靠性和維護(hù)的方便性而設(shè)計(jì)，各個(gè)耗件均安裝在預(yù)先對(duì)準(zhǔn)的底座上，用戶無需對(duì)準(zhǔn)光學(xué)元件，即可進(jìn)行快速更換。
MATRIX-MF 防爆
MATRIX-MF還擁有符合以下標(biāo)準(zhǔn)的ATEX防爆版本：
