Paschen-Runge和Czerny-Turner相結(jié)合的“蝶形”光學(xué)結(jié)構(gòu)； 中壓力氬氣凈化系統(tǒng)，提升長期穩(wěn)定性并減少維護(hù)；
波長范圍119-761nm，
可測量金屬材料中的O、N、H等氣體元素；
采用量子效率更高的CMOS；
全新設(shè)計(jì)的光源，精度更高，功耗更低。
一、高性能金屬分析，價(jià)位合理
新型OE720是一款突破性的新型OES金屬分析儀。其涵蓋了金屬元素的全部光譜，并較同類產(chǎn)品具有更低的檢出限。
由于行業(yè)法規(guī)日益嚴(yán)格，供應(yīng)鏈變得復(fù)雜以及更多地使用廢料作為基礎(chǔ)材料，因此鑄造廠和金屬制造商需要將雜質(zhì)和痕量元素控制在ppm范圍內(nèi)。在過去，這類級別的OES對許多企業(yè)而言是遙不可及。日立分析儀器推出的新型OE720可改變這一現(xiàn)狀。
這款直讀光譜儀可用于分析所有主要合金元素，并識別金屬中含量低的雜質(zhì)、痕量元素和處理元素，如鋼中的氮。 OE720的測量速度快、可靠性高且運(yùn)營成本低，可進(jìn)行高性價(jià)比的日常分析和質(zhì)量控制，其性能可與更大、更貴的光譜儀媲美。
*根據(jù)應(yīng)用的不同，有關(guān)更多詳細(xì)信息，請索取我們的應(yīng)用報(bào)告。
二、鑄鐵中實(shí)現(xiàn)更好的熔體控制
了解如何用火花直讀光譜儀在鑄鐵中實(shí)現(xiàn)更好的熔體控制，內(nèi)容包括樣品制備、校準(zhǔn)、類型標(biāo)準(zhǔn)化、維護(hù)和牌號鑒定。
三、探索真實(shí)值
您還可能對我們關(guān)于如何評估準(zhǔn)確度，并計(jì)算光譜測量的誤差范圍的指南感興趣。它介紹了在演示如何將這些概念用于實(shí)際例子之前的一些基本統(tǒng)計(jì)概念。
世界上大約有20,000家鑄造廠生產(chǎn)鑄鐵。制造合金時(shí)，需要在整個(gè)熔化過程中檢查其準(zhǔn)確的化學(xué)成分，以確保成品的質(zhì)量符合規(guī)格。OES技術(shù)致力于在整個(gè)過程中提供準(zhǔn)確和可靠的質(zhì)量控制。我們?nèi)樟⒎治龅漠a(chǎn)品經(jīng)理 Wilhelm Sanders 解釋了如何做到這一點(diǎn)。
我們關(guān)于如何用火花直讀光譜儀在鑄鐵中實(shí)現(xiàn)熔體控制的指南包括：
隨著國際質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)要求越來越高，您需要獲得置信度高的結(jié)果。沒有很好的誤差范圍，您根本無法確定您的部件是否符合規(guī)格。知道您擁有可靠且值得信賴的誤差范圍（或置信區(qū)間），則您可以向自己和您的客戶保證材料的真實(shí)成分。本指南將為您提供根據(jù)具體情況選擇正確程序所需的知識。此程序?qū)⒊蔀閼T例，使您獲得置信度高的結(jié)果。
在展示如何將概念用于實(shí)際示例之前，我們所提供的關(guān)于搜索真實(shí)值的指南將介紹一些基本統(tǒng)計(jì)概念。同時(shí)也會(huì)向您展示如何：
評估光譜測量的準(zhǔn)確度
計(jì)算光譜測量的誤差范圍
計(jì)算可靠且值得信賴的誤差范圍
在未獲得任何參考樣本的情況下估算誤差范圍
四、包括牌號數(shù)據(jù)庫
超大金屬數(shù)據(jù)庫用于快速簡便的牌號鑒定，已預(yù)先安裝在OE720上。
日立的數(shù)據(jù)庫提供來自70個(gè)國家和標(biāo)準(zhǔn)的超過350000種材料的1500多萬條記錄。只需點(diǎn)擊幾下，即可更新儀器的牌號數(shù)據(jù)庫，無需耗費(fèi)時(shí)間搜索各種規(guī)范和牌號目錄。
售后服務(wù)
