詳細信息
X射線熒光分析法原理及特點
用X射線轟擊樣品，樣品受激發(fā)后產(chǎn)生X射線熒光，X射線通常把元素原子層K層和L層的內(nèi)層電子打出原子，產(chǎn)生的空穴被高能量的外層電子。補充到低能量軌道上的高能量電子把多余的能量以X射線熒光輻射出來。這些輻射出來的譜線中含有各種元素的特征，像指紋一樣，并且獨立于原子的化學價態(tài)。輻射的強度與樣品中該元素的濃度成正比。
應用領(lǐng)域
性能特點
儀器體積更小、重量更輕，方便攜帶。
高速處理芯片的算法和軟件相配合，使得儀器分析速度更快。
選用高性能X光射線發(fā)射管和高分辨率探測器，結(jié)合數(shù)字多道處理技術(shù)，使得TrueX手持式X熒光光譜儀具有高分析精度。
用戶可自定義創(chuàng)建報告：包括公司標志、公司地址、檢測結(jié)果、光譜譜圖及其他樣品信息（如產(chǎn)品描述、產(chǎn)地、批號等）。
內(nèi)置的環(huán)境感應系統(tǒng)。使得TrueX能夠?qū)崟r感知周圍環(huán)境變化，并自動做出參數(shù)調(diào)整，以適用高低溫、粉塵、陰暗潮濕等端條件下的元素分析。
內(nèi)置DoubleBeam™技術(shù)自動感知儀器前方有無樣品， 提高射線的安全性和防護等級。且自動根據(jù)外部環(huán)境亮度調(diào)節(jié)顯示器亮度。
可將設(shè)備聯(lián)入互聯(lián)網(wǎng)，可遠程對儀器進行設(shè)置及檢修。
TrueX內(nèi)置的全新凈強度擬合算法，優(yōu)化了光譜解析過程，使得TrueX擁有與實驗室大型設(shè)備相媲美的低檢出限。
具有MSBUS總線的智能電池、實時監(jiān)控電池、備用電池可直接查看電池剩余容量。
工業(yè)電阻觸摸屏，相比電容屏具有更優(yōu)異的背光性能，在野外強光下依然清晰可見，同時免除野外特殊環(huán)境脫手套操作的危險性。
技術(shù)參數(shù)及規(guī)格
