INVENIO適用于幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域及任何行業(yè)，從常規(guī)質(zhì)量控制到的研發(fā)工作

INVENIO 適用于幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域及任何行業(yè)，從常規(guī)質(zhì)量控制到的研發(fā)工作。無論您專注于高效、精準(zhǔn)或者必須符合規(guī)定，INVENIO總能支持您！

創(chuàng)新特性

• 全新設(shè)計的光束路徑帶來優(yōu)異的信噪比

• 嵌入式觸摸屏PC用于且高效的FT-IR分析（可選）

• 第二個樣品室可額外支持一種實驗設(shè)置(Transit^TM)

• 創(chuàng)新的      MultiTect™ 支持多達(dá)5個室溫檢測器，內(nèi)部可配備多達(dá)7個自動檢測器

• 新型無磨損精準(zhǔn)調(diào)節(jié)      INTEGRAL™ 干涉儀含三位分束器自動切換組件，分辨率優(yōu)于 0.085cm^-1

• 現(xiàn)代 SoC 電子元件使用戶能夠分辨最小的光譜特征

• 的BRUKER      FM檢測技術(shù)可以一次性收集遠(yuǎn)、中紅外光譜

• 從 FIR 到 VIS/UV 以及時間分辨光譜

需求變化，INVENIO 適應(yīng)

您的應(yīng)用程序是衡量事物的尺度，INVENIO 支持您的努力。如果您的分析需求增長，INVENIO 會跟上。它是您日常分析任務(wù)所需的堅實基礎(chǔ)。

的靈敏度

憑借新穎、高效的光路設(shè)計，以及由的SoC電子元件控制的精確的光學(xué)系統(tǒng)，INVENIO能夠為您提供性能，再細(xì)小的光譜細(xì)節(jié)亦無處可遁。

強(qiáng)大的軟件
OPUS作為紅外分析領(lǐng)域大的軟件解決方案之一，能夠簡化測量程序，為FTIR初學(xué)者和專家提供支持，提供大量的方法創(chuàng)建成套工具，以及樣品評估擴(kuò)展功能。

時刻驗證

INVENIO具有完整的自動PQ（性能驗證）和OQ（操作驗證）程序，可在受監(jiān)管的制藥實驗室中進(jìn)行儀器驗證。

體驗質(zhì)量

從耐用的外殼，到擁有、無損耗且精準(zhǔn)的干涉儀，每個元件均采用質(zhì)的材料制成。INVENIO經(jīng)久耐用，能夠為您提供長達(dá)多年的長久可用性。

不再受限

• 隨時升級，擴(kuò)展光譜范圍

• 實現(xiàn)步進(jìn)掃描、快速掃描和交叉掃描時間分辨光譜TRS

• 覆蓋從遠(yuǎn)紅外到紫外/可見光的任何細(xì)節(jié)

• 僅需數(shù)秒即可切換附件、檢測器和分束器

• TGA、顯微鏡或發(fā)射分析等更多外部模塊

• 拉曼模塊用于增強(qiáng)分析可能性

• 符合GMP、GLP 及 21      CFR part 11

更多分析

INVENIO幾乎可與任何類型的樣品相匹配，僅需幾秒鐘便可切換采樣附件，借助第二個樣品室，您還能并行采用兩個實驗設(shè)置。

工作更輕松

為了始終確保的測量參數(shù)，所有核心組件均進(jìn)行了電子編碼。此外，可選的集成式觸屏電腦能夠帶來的直觀式用戶體驗，以及的聯(lián)網(wǎng)功能。

所用技術(shù)受以下一項或多項保護(hù)：US 7034944

要求質(zhì)量控制需要 INVENIO

常規(guī)和質(zhì)量控制

FT-IR 分析

INVENIO能夠簡化您的日常分析任務(wù)?？蛇x的觸屏式電腦、無線聯(lián)網(wǎng)功能、的光譜性能、突破性的SoC電子元件和長壽命組件，而這些只是成就超凡INVENIO的其中一部分。

更好、更智能地工作

INVENIO觸屏式電腦（選件）能夠提供直觀式用戶界面和智能聯(lián)網(wǎng)功能，在實驗室測量，在辦公室解析，將真正成為可能——無需纜線或人工傳輸數(shù)據(jù)。預(yù)設(shè)的工作流程限度地減輕了操作人員的工作量，同時保持功能不受影響。

可靠、高效、高產(chǎn)

從基本的QC/QA，到要求嚴(yán)苛的研究級應(yīng)用，不論您正在使用標(biāo)準(zhǔn)的ATR裝置、特殊的多角度反射裝置還是成像顯微系統(tǒng)。您都可以信賴INVENIO帶來的直觀明了的分析和測量結(jié)果。

始終值得信賴

PermaSure^TM 能夠時刻監(jiān)測設(shè)備配置，并進(jìn)行快速自檢，以確保正常運行，同時，PerformanceGuard^TM 可通過持續(xù)監(jiān)測所有機(jī)械和電子元件來確保儀器的性能。

靈活的 FT-IR
Transit^TM 通道（ATR或透射模式），帶有專用MIR DTGS檢測器的獨立第二樣品室，您將能進(jìn)行兩種實驗設(shè)置，節(jié)約大量時間。

指尖上的FT-IR光譜

適用于Windows、ALPHA、INVENIO的OPUS Touch

INVENIO 的應(yīng)用

INVENIO非常適用于需要高靈敏度、光譜或時間分辨率、穩(wěn)定性、靈活性和可升級性的情景，從而改善您在工業(yè)或研究應(yīng)用領(lǐng)域的日常分析體驗。

質(zhì)量控制

• 原料驗證

• 產(chǎn)品缺陷故障排除

• 識別未知污染物

材料表征

• 揮發(fā)性成分的測定

• 分解過程表征

• 光學(xué)材料表征

半導(dǎo)體

• 硅晶圓中氧和碳含量測定

• 近紅外光譜范圍的光致發(fā)光測量

研發(fā)

• 時間分辨光譜學(xué)

• 傅立葉變換紅外光譜電化學(xué)

• 低溫實驗

• 傅立葉變換紅外顯微及化學(xué)成像

• 原位反應(yīng)監(jiān)測

• 幅度調(diào)制（AM）光譜

制藥與生命科學(xué)

• 評估醫(yī)藥產(chǎn)品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量

• 區(qū)分活性藥物成分的多晶型

• 蛋白質(zhì)構(gòu)象和濃度

• 微生物鑒定

聚合物和化學(xué)品

• 識別聚合物復(fù)合材料中的無機(jī)填料

• 識別無機(jī)礦物質(zhì)和色素

• 多層分析

• 配方研究

• 反應(yīng)監(jiān)測和反應(yīng)控制

• 聚合物動態(tài)和流變-光學(xué)研究

• 傅立葉變換拉曼在各領(lǐng)域的應(yīng)用

環(huán)境

• 污染監(jiān)測（如微塑料）

• 土壤表征