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UVISEL PLUS HORIBA橢圓偏振光譜儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 上海瓦克儀器有限公司
  • 品牌
  • 型號 UVISELPLUS
  • 所在地 上海市
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 更新時(shí)間 2024/3/11 22:43:50
  • 訪問次數(shù) 65

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橢圓偏振光譜儀UVISELPLUS是一種無損無接觸的光學(xué)測量,基于測量線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變,通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的厚度以及光學(xué)性質(zhì)等等,可測厚度范圍為幾埃至幾十微米

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

橢圓偏振光譜儀UVISEL PLUS是一種無損無接觸的光學(xué)測量,基于測量線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變,通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的厚度以及光學(xué)性質(zhì)等等,可測厚度范圍為幾埃至幾十微米。此外,還可以測試材料的反射率及透過率。 


技術(shù)參數(shù): 

? 光譜范圍: 190-885nm(可擴(kuò)展至2100nm) 

? 微光斑可選50μm-100μm-1mm 

? 探測器:分別針對紫外,可見和近紅外提供優(yōu)化的PMT和IGA探測器 

? 自動樣品臺尺寸:多種樣品臺可選 

? 自動量角器:變角范圍40° - 90°,全自動調(diào)整,小步長0.01° 


主要特點(diǎn): 

? 50KHz高頻PEM相調(diào)制,測量光路中無運(yùn)動部件 

? 具備薄膜所需的測量精度,厚膜所需的高光譜分辨率 

? 具有毫秒級快動態(tài)采集模式,可用于在線實(shí)時(shí)監(jiān)測 

? 自動平臺樣品掃描成像、變溫臺、電化學(xué)反應(yīng)池、液體池、密封池等多種附件 

? 配置靈活


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