當前位置:儀器網 > 產品中心 > 行業(yè)專用儀器>其它行業(yè)專用儀器>其它> 透射電鏡Talos F200X
返回產品中心>FEITalosF200X融合了高分辨率掃描/透射電子顯微鏡(STEM)和TEM成像功能與能量色散X射線光譜儀(EDS)信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學表征功能
FEI Talos F200X融合了高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (STEM) 和 TEM 成像功能與能量色散 X 射線光譜儀 (EDS) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學表征功能。Talos F200X可在所有維度 (1D-4D) 下實現(xiàn)快速的 EDS 分析,以及支持快速導航的動態(tài)顯微鏡 HRTEM 成像。
Talos F200S在STEM成像上具有多功能性和高的通量。與此同時,F(xiàn)EI Talos F200S還提供高的穩(wěn)定性和長的正常運行時間。
Talos可以滿足冷凍單顆粒技術、冷凍電子斷層掃描技術、STEM電子斷層掃描技術的數據收集需求,如:
1、進行液氮溫度的冷凍樣品數據收集;
2、可進行單顆粒樣品數據收集;
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
*您想獲取產品的資料:
個人信息: