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透射電鏡Talos F200X

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FEITalosF200X融合了高分辨率掃描/透射電子顯微鏡(STEM)和TEM成像功能與能量色散X射線光譜儀(EDS)信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學表征功能

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FEI Talos F200X融合了高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (STEM) 和 TEM 成像功能與能量色散 X 射線光譜儀 (EDS) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學表征功能。Talos F200X可在所有維度 (1D-4D) 下實現(xiàn)快速的 EDS 分析,以及支持快速導航的動態(tài)顯微鏡 HRTEM 成像。


Talos F200S在STEM成像上具有多功能性和高的通量。與此同時,F(xiàn)EI Talos F200S還提供高的穩(wěn)定性和長的正常運行時間。


基本參數
明場X-FEG:1.8×109 A/cm2 srad(@200kV)
總束電流:>50nA
探針電流:2nA@1nm探針(200 kV);0.4 nA@0.31nm探針
EDS系統(tǒng):2 SDD無窗設計,shutter保護
能量分辨率:≤136 eV,對Mn-Kalpha和10kcps(輸出)
快速EDS:像素駐留時間低至10 us除了這些基本特性外,本中心的Talos還裝備:
1、Ceta 4K*4K 相機;
2、用于STEM模式的環(huán)形暗場探頭(HAADF)以及BF/DF探頭;
3、Gatan 626冷凍傳輸樣品桿,單傾樣品桿以及三維重構樣品桿;
4、 單顆粒技術自動化數據收集系統(tǒng)EPU和電子斷層掃描技術自動化數據收集軟件Xplore3D。



Talos可以滿足冷凍單顆粒技術、冷凍電子斷層掃描技術、STEM電子斷層掃描技術的數據收集需求,如:

1、進行液氮溫度的冷凍樣品數據收集; 

2、可進行單顆粒樣品數據收集;


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