TalosF200STEM用于材料科學為未修正的STEM性能設定標準ThermoScientificTalosF200S掃描/透射電子顯微鏡（S/TEM）將高分辨率S/TEM和TEM成像與能量色散X射線光譜儀（EDS）相結合
Talos F200S TEM用于材料科學
為未修正的STEM性能設定標準
Thermo Scientific Talos F200S掃描/透射電子顯微鏡（S/TEM）將高分辨率S/TEM和TEM成像與能量色散X射線光譜儀（EDS）相結合。Talos F200S S / TEM在STEM成像中具有多功能性和高的通量。它可以為動態(tài)顯微鏡提供EDS分析和HRTEM。Talos F200S S / TEM可以做到同時還提供高的穩(wěn)定性和長的正常運行時間。
高性能成像和動態(tài)顯微鏡的成分分析
Thermo Scientific Talos F200S 200kV S/TEM結合了快速，多通道，高分辨率S/TEM成像和成分分析，可實現(xiàn)動態(tài)顯微鏡應用。Talos S/TEM具有旨在提高通量，精度和易用性的功能，非常適合在學術、政府和工業(yè)研究環(huán)境中進行研究和分析。
主要好處
更好的圖像數(shù)據(jù)
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