快速、準確地分析納米級鍍層FT160臺式XRF分析儀旨在測量當今PCB、半導體和微連接器上的微小部件
快速、準確地分析納米級鍍層
FT160 臺式 XRF 分析儀旨在測量當今 PCB、半導體和微連接器上的微小部件。準確、快速地測量微小部件的能力有助于提高生產率并避免代價高昂的返工或元件報廢。
FT160 的多毛細管光學元件可以測量小于 50 μm 的特征上的納米級鍍層，的檢測器技術可為您提供高精度，同時保持較短的測量時間。其他功能，例如大樣品臺、寬樣品艙門、高清樣品攝像頭和堅固的觀察窗，可以輕松裝載不同尺寸的物品并在大型基板上找到感興趣的區(qū)域。該分析儀易于使用，與您的 QA / QC 流程無縫集成，在問題危機發(fā)生前提醒您。
產品亮點
FT160 的光學和檢測器技術專為微光斑和超薄鍍層分析而設計，針對最小的特征進行了優(yōu)化。
用于從安全距離查看分析的大觀察窗
測量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 標準
IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性鍍層檢測
用于快速樣品設置的自動特征定位
為您的應用優(yōu)化的分析儀配置選擇
在小于 50 μm 的特征上測量納米級鍍層
將傳統(tǒng)儀器的分析通量提高一倍
可容納各種形狀的大型樣品
專為長期生產使用的耐用設計
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| FT160 | FT160L | FT160S |
| 元素范圍 | Al – U | Al – U | Al – U |
| 探測器 | 硅漂移探測器 (SDD) | 硅漂移探測器 (SDD) | 硅漂移探測器 (SDD) |
| X射線管陽極 | W 或 Mo | W 或 Mo | W 或 Mo |
| 光圈 | 多毛細管聚焦 | 多毛細管聚焦 | 多毛細管聚焦 |
| 孔徑大小 | 30 μm @ 90% 強度（Mo tube） |
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| 35 μm @ 90% 強度（W tube） | 30 μm @ 90% 強度（Mo tube） |
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| 35 μm @ 90% 強度（W tube） | 30 μm @ 90% 強度（Mo tube） |
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| 35 μm @ 90% 強度（W tube） |
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| XY軸樣品臺行程 | 400 x 300 mm | 300 x 300 mm | 300 x 260 mm |
| 樣品尺寸 | 400 x 300 x 100 mm | 600 x 600 x 20 mm | 300 x 245 x 80 mm |
| 樣品聚焦 | 聚焦激光和自動聚焦 | 聚焦激光和自動聚焦 | 聚焦激光和自動聚焦 |
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