XU-100 X熒光光譜測(cè)厚儀
高精尖檢測(cè)技術(shù),搞定企業(yè)品質(zhì)管控!
XU-100光譜測(cè)厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計(jì),搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng),以及高敏變焦測(cè)距裝置,對(duì)各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測(cè)量。
檢測(cè)各種金屬鍍層,檢出限可達(dá)0.005μm,最小測(cè)量面積0.2mm²,凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)0-30mm,是一款測(cè)量鍍層厚度性價(jià)比高、適用性強(qiáng)的機(jī)型。
應(yīng)用行業(yè):
電鍍層分析
緊固件行業(yè)
五金行業(yè)
汽車零部件
配飾厚度分析
電子元器件
……
常見樣品:
緊固件
ZnAl/Fe、Zn/Fe、ZnNi/Fe
五金制品
Sn/Cu/Fe、Ni/Cu、Ni/Cu/Fe
電子元器件
Sn/Ni/Fe、Au/Ni/Cu、Ag/Cu
汽車零部件Zn/Fe、ZnNi/Fe、ZnAl/Fe、Cr/Ni/Cu/ABS
配飾首飾
Au/Pd/925Ag、Rh/Pd/Cu、18KAu/Pd/Cu
散熱片NiP/Al
……
為什么選擇XU-100?
1.下照式設(shè)計(jì)
可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。
2.高精密微型移動(dòng)滑軌
快速精準(zhǔn)定位樣品。
3.
微焦X射線裝置
最小檢測(cè)面積可達(dá)0.2mm²的樣品,可進(jìn)行各類電鍍層膜厚檢測(cè)。
高效率正比接收器即使測(cè)試0.2mm²的樣品,幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。
4.
變焦裝置算法
可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行檢測(cè),凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)0-30mm。
5.的EFP算法
多層多元素,包括有同種元素在不同涂鍍層的檢測(cè),都可以快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析。
最小檢測(cè)面積可達(dá)0.01mm²
凹槽深度范圍0-30mm
移動(dòng)精度10μm
最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度10%