表面粗糙度儀SJ-400系列 可以輕易應(yīng)付表面螺紋、微細(xì)段差曲面形狀的高難度量測(cè)。若搭載DAT機(jī)能，可強(qiáng)化水平作業(yè)，使量測(cè)更容易。使用高精度驅(qū)動(dòng)部+高分解能檢出器，實(shí)現(xiàn)超高精度量測(cè)。擁有豐富的參數(shù)，并且可對(duì)應(yīng)各國的粗度規(guī)格。 表面粗糙度儀
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一.測(cè)定本體部（性能參數(shù)） | 測(cè)量方式 | 有軌/無軌測(cè)量 | | 測(cè)量范圍 | Z軸 | 800?m, 80?m, 8?m （用備選探針可達(dá) 2,400?m） | | X軸 | SJ-401: 25mm （1”） SJ-402: 50mm （2”） | | 驅(qū)動(dòng)部 | 直線度 | 0.3?m/25mm | | 測(cè)量速度 | 0.05, 0.1, 0.5, 1.0mm/s | | 返回速度 | 0.5, 1.0, 2.0 mm/s | | 高度-傾斜調(diào)整裝置 | 高度調(diào)整范圍 | ±1.5? | | 傾斜調(diào)整范圍 | 10mm | | 評(píng)價(jià)輪廓 | 主輪廓（P）, 粗糙度輪廓 （R）, 波形輪廓濾波 （W）, DIN4776, MOTIF （R, W） | | 評(píng)價(jià)參數(shù) | Ra, Ry, Rz, Rq, Pc, R3z, mr, Rt, Rp, Rv, Sm, S, δc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Lo, Ppi, R, AR, Rx, Δa, Δq, Ku, HSC, mrd, Sk, W, AW, Wte, Wx, Vo | | 分析圖標(biāo) | 負(fù)荷曲線（BAC）, 振幅分布曲線（ADC） | | 區(qū)間數(shù) | X1, X3, X5, XL＊ （＊=任意長度） | | 任意長度 | 0.1 to 25mm | | 取樣長度 （L） | 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm | | 打印寬度 | 48mm/紙寬: 58mm | | 記錄倍率 | 垂直倍率 | 自動(dòng)放大10-100K | | 水平倍率 | 自動(dòng)放大1-1K | | 檢測(cè)器 | 檢測(cè)方法 | 差動(dòng)電感式 | | 最小分辨率 | 0.000125?m （8?m 范圍） | | 探針針尖 | 圓錐60°, 半徑 2?m, 鉆石 | | 功能 | 用戶自定義 | 顯示窗口/粗糙度參數(shù)可選 | | 數(shù)據(jù)補(bǔ)償 | R面補(bǔ)償, 傾斜度補(bǔ)償 | | 線規(guī)功能 | 顯示任意兩個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)差 | | D.A.T. 功能 | 在無軌測(cè)量中幫助調(diào)整水平 | | 位移檢測(cè)模式 | 當(dāng)驅(qū)動(dòng)部停止運(yùn)行的同時(shí)輸入探針位移量 | | 統(tǒng)計(jì)處理 | 值，最小值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差（s），合格率，柱狀圖 | | 公差判定 | 可三個(gè)參數(shù)的上下偏差值 | | 測(cè)量條件存儲(chǔ) | 五套測(cè)量條件（控制器） | | 打印機(jī) | 熱敏打印機(jī) | | 截止波長 | 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm | | 數(shù)字濾波 | 2CR, PC75 （相位校正）, Gauss | | 校正 | Ra, 階差（輸入粗糙度樣件的自動(dòng)校正） | | 電源 | 通過AC適配器, 內(nèi)置充電電池 （Ni-H） | | 電池 | 充電時(shí)間 | 15 小時(shí) | | 測(cè)量次數(shù) | 最多600 次，（無打印時(shí)） | | 耗電量 | 43W （max.） | | 尺寸 | 控制裝置 | 307x165x94mm | | 高度-傾斜調(diào)整裝置 | 131x63x99mm | | 驅(qū)動(dòng)部 | 128x36x47mm | | 粗糙度標(biāo)準(zhǔn) | JIS （JIS B）, DIN, ISO, ANSI | | LCD 尺寸 | 觸摸屏 | | 數(shù)據(jù)輸出 | RS-232C 輸入/輸出， SPC 輸出 | | 標(biāo)準(zhǔn)配件 | AC適配器r,手提箱, 打印紙, 觸摸筆, 保護(hù)片, 無軌探針管殼,用戶手冊(cè), 快速用戶手冊(cè), 工具 | | | |
